RF WCDMA基准比较测试白皮书
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测量值平均运算与重复性
本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/133986.htm虽然平均运算对整体的测量时间影响较大，但是仍需要通过平均运算以实现可重复的测量结果。由于测量值平均运算事实上增大了总体的测量时间，所以弄清平均运算次数与重复性精度之间的关系非常重要。因为可以通过平均来降低信号中的一些噪声，你可以看到：随着平均次数的增加，连续运行的重复性精度提高。图10中所示， 在不同的平均值次数的配置下的EVM标准差。
如图10所示,所有的EVM测量都是针对一个WCDMA帧内进行，相当于2600 chip。请观察测量重复性精度与平均次数的关系。在图10所示结果中仅仅使用了1000组数据，而对于大多数产品测试应用来说，通常需要更大的数据集。事实上，许多测试都是使用多个仪器，因此需要一个更精确的模型，以表征测量重复性。
使用PXIe-5663 RF 矢量信号分析仪和PXIe-5673 矢量信号发生器，你可以很容易地实现优于1%的EVM测量。表3所示为更重配置下实现的均值和标准差。
NI 5663 RF矢量信号分析仪和PXIe-5673 RF信号发生器可以对WCDMA标准实现精准的、可重复的EVM测量。
结论
随着无线通信技术的使用越来越广泛，减少其测量时间所需的难度越来越大。幸运的是，PXI测量系统可以利用计算领域的最新技术。事实上，如本文中的数据所示，执行于多核PXI处理器上的并行的测量算法比传统仪器上的类似算法有显著的速度优势。因此，借助于National Instruments新推出的PXI 6.6 GHz RF测量平台，你可以在应对RF测试中的新挑战的同时降低测试成本。
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