RF WCDMA基准比较测试白皮书
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为了更加全面准确地观察PXI仪器所带来的性能提升，所进行的这些测量需要进行若干次。下面所示的所有数据是在每一种配置下进行10次测量后的均值。如图6中所示，若使用基于PXI的测量系统(而不是传统仪器)，CCDF测量时间可以减少33%。此处，你可以看到NI 8353 四核机架式控制器可以达到最高的测量速度。
本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/133986.htm对于处理器密集型的物理层测量来说，选择不同的处理器对总体的测量时间影响很大。在图7至9中，可以看到传统仪器和PXI仪器在测量时间和平均次数之间的关系。
对于诸如EVM测量这样的处理器密集型应用来说，选择不同的处理器对总体的测量时间影响很大。例如，一个EVM测量如果设定为对五个点进行平均值运算，若使用PXIe-8130嵌入式双核控制器需要342毫秒，若使用NI 8353四核控制器则所需时间缩减33%，只需要228毫秒。在相邻通道泄漏比率(Adjacent channel leakage ratio, ACLR)测量中也可看到类似的结果，如图8所示。
在ACLR测量中，使用PXI RF测量系统可以比传统仪器快16倍。对于一个ACLR测量(不考虑配置所需时间)来说，典型的测试时间不超过8毫秒，这比常规的时域 ACLR测量时间还短。图9所示为最后一项测量结果，即为占用带宽的测量。
在图9中你可以看到，对于一些测量来说，在达到相同的测量结果时，PXI RF仪器可以比传统仪器快30倍。此外，在一些需要更多的平均次数的测量中，PXI仪器在绝对的测量时间上的优势更为显著。
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