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吉时利 文章

实际不稳定问题和稳定方案

  • 图1描述了实际系统对1A负载电流脉冲的电压响应(下面的曲线)。负载是阻性的,电缆长度可以忽略(负载直接连在电源输出端)。负载电压对负载电流脉冲上升沿和下降沿的响应显示了10mV压降与10mV过冲。这非常接近于能够实
  • 关键字: 测试    it    吉时利    测量  

远距离操作和测试脚本

  • 处理器的使用在进入实际测试实例之前,我们先讨论用于此测试应用的新仪器特性。2600系列源表具有强大的嵌入式计算机或测试脚本处理器,因而能实现在堆架式仪器中从未见过的功能。可以将完整的测试程序(脚本)下载至T
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利用吉时利4200-SCS型优化小电流测量的最佳解决方

  • I分析系统优化小电流测量- 引言许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件,以及测量绝缘体或电容的漏流。4200-SCS型半导体特性
  • 关键字: 4200  SCS  吉时利  测量    

KPXI混合测试系统解决方案

  • 吉时利的混合测试解决方案是业界最先进的PXI和测试设备混合结构,通过分布式编程和并行执行能够极大地加...
  • 关键字: KPXI  混合测试系统  吉时利  PXI  

分析系统优化小电流测量

  •        I分析系统优化小电流测量- 引言   许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件,以及测量绝缘体或电容的漏流。   4200-SCS型半导体特性分析系统配备可选的4200-PA型远程前置放大器时,可提供非常卓越的小电流测量能力,分辨率达1E–16A。成功测量小电流不仅依赖于使用非常灵敏的安培计,例如4200-SCS型,而
  • 关键字: 吉时利  电流测量  4200-SCS  

融合LXI和脚本的优点(下)

  • Part v      这部分包含许多脚本例子说明吉时利支持脚本的仪器的一些特点。图1示出了两台吉时利系统源表如何使用单脚本控制产生3相交流波形。在这个例子中,使用吉时利的TSP-Link技术连接这两台仪器,因而很容易用脚本控制这两台仪器。       图2说明了基于LXI Class B技术的定时器如何控制脚本工作。在此脚本中,吉时利3706型LXI Class B仪器使用基于IEEE 1
  • 关键字: 吉时利  LXI  脚本  

咱的纳米有几 安(A)、伏(V)?(下)

  •   解决问题:脉冲I-V测试 ——纳米测试小技巧   在对纳米器件进行电流-电压(I-V)脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流,因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这里,低电平测量技术不仅对于器件的I-V特征分析而且对于高电导率材料的电阻测量都非常重要。利于研究人员和电子行业测试工程师而言,这一功耗限制对当前的器件与材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑战。   与微米级元件与材料的I-V曲线生成不同的是,对纳米材料与器件的测量需要特殊的
  • 关键字: 吉时利  纳米测试  脉冲I-V测试  

吉时利2651A仪器(下)

  • 测试测量仪器的技术指标简明技术指标 电压准确度 量程 源 测量
  • 关键字: 2651A  吉时利  仪器    

No.3 2651A吉时利产品新成员

  • Part I吉时利推出新产品2651A
    大功率2651A型数字源表进一步丰富了2600A系列产品。该源表专门针对大功率电子器件的特性分析和测试而优化设计,可帮助用户在研发、可靠性及生产领域提高生产力,包括高亮度LED、功率半
  • 关键字: 2651A  No  吉时利  产品    

咱的纳米器件有几安(A)、伏(V)?(上)

  • 随着纳米技术日新月异的发展,研究已深入到原子挨原子的分子级,构造具有全新特性的新结构。特别地,纳米电子领域的发展十分迅速,其潜在影响涉及非常宽的行业领域。目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳米管、半导体纳米线、分子有机电子和单电子器件。
  • 关键字: 吉时利  脉冲测试  

一种新的晶圆级1/f噪声测量方法

  • 本文提出了一种新的可靠的晶圆级1/f噪声测量方法和架构。所提出的测试架构采用了吉时利的一系列仪器,包括4200-SCS、428和一个低通滤波器。并且采用了吉时利的自动特征分析套件(ACS)软件来控制测量仪器的操作,采集/分析测得的数据。由于所用的低通滤波器能够消除所有高于0.5 Hz的高频噪声,因此大大提高了1/f噪声的测量精度。利用这一测量架构能够在各种偏压条件下评测具有不同尺寸的NMOS和PMOS器件的1/f噪声特征。
  • 关键字: 吉时利  电流放大器  1/f噪声  低通滤波器  自动化  

半导体C-V测量基础

  •   通用测试   电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外,利用C-V测量还可以对其他类型的半导体器件和工艺进行特征分析,包括双极结型晶体管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏电池、MEMS器件、有机TFT显示器、光电二极管、碳纳米管(CNT)和多种其他半导体器件。   这类测量的基本特征非常适用于各种应用和培训。大学的研究实验室和半导体厂商利用这类测量评测新材料、新工艺、新器件和新电路。C-V测量对于产品和良率增强工程师也是极其重要的,
  • 关键字: 吉时利  C-V测试  半导体  MOSFET  MOSCAP  

吉时利发布USB-GPIB接口适配器

  • 吉时利发布USB-GPIB接口适配器  吉时利 (Keithley) 仪器正式发布了KUSB-488型USB-GPIB接口适配器。KUSB-488型接口适配器可将任何带有USB端口的计算机转变成全功能的IEEE 488.2控制器,该控制器可控制多达14台可编程GPIB仪器。  这种小型轻便的KUSB-488型接口适配器适用于膝上型计算机的便携式应用或台式机的应用,因为某些计算机中,其I/O插槽很少或根本没有,而USB端口却会有几个。KUSB-488型接口适配器适用于带有USB端口、安装Windows 20
  • 关键字: 吉时利  
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吉时利介绍

美国吉时利仪器公司(nyse:kei)通过各种测试与测量的解决方案为全球客户提供更加自信的测试。吉时利公司最初通过为科研领域提供电子测量方案而逐渐壮大起来,现已成为全球通讯、半导体、元器件生产等领域产品测试技术的领导者。请浏览吉时利仪器公司网址www.keithley.com获得更详细的信息. 2003年销售额   1.067亿美元 公司雇员   雇员人数超过600人,在80多个国家设有销售机构。 [ 查看详细 ]

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