- 进行双脉冲测试的主要目的是获得功率半导体的开关特性，可以说它伴随着功率器件从研发制造到应用的整个生命周期。基于双脉冲测试获得的器件开关波形可以做很多事情，包括：通过对开关过程的分析验证器件设计方案并提出改进方向、提取开关特征参数制作器件规格书、计算开关损耗和反向恢复损耗为电源热设计提供数据支撑、不同厂商器件开关特性的对比等。测量延时的影响被测信号在测量过程中会经历两次延时，不同信号所经历延时的差别会对测量结果造成一定的影响。一次延时是示波器模拟前端的延时，索性示波器不同通道间延时差别在 ps 级别，对于
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Tektronix 延时校准 脉冲测试
- 随着纳米技术日新月异的发展，研究已深入到原子挨原子的分子级，构造具有全新特性的新结构。特别地，纳米电子领域的发展十分迅速，其潜在影响涉及非常宽的行业领域。目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳米管、半导体纳米线、分子有机电子和单电子器件。
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吉时利 脉冲测试
- 美国俄亥俄州克利夫兰市2007年4月10日讯——新兴测量需求解决方案的领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI）日前发布获奖产品——4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本，本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。实验室系统的应用将集成直流和脉冲测量功能与完整的应用工具包结合，为用户提供完整解决方案。功能增强的脉冲发生器插卡和新型的示波器插卡，为半导体技术生产和研究者们提供强大新功能。新升级版本不仅增强了吉时利4200-PIV工具包功能，还提供两种新版应
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测量 测试 吉时利 脉冲测试
- 针对不断增长的测量需求提供解决方案的行业领袖吉时利 (Keithley) 仪器公司(NYSE:KEI)，日前发布6.1版交互式KTEI，暨功能强大的KTEI（吉时利交互式测试环境）测量软件之最新版本，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI 6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。 脉冲测试正成为日益重要的新特性分析技术。高速脉冲避免了自加热效应可能造成的损坏并应用于新半导体材料和器件的特性分析，例如高k栅层叠特性
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测量 测试 吉时利 脉冲测试 新版测试软件
脉冲测试介绍
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