- 每个芯片上更多器件和更快时钟速度的不断发展，推动了几何形状缩小、新材料和新技术的发展。由于更脆弱、功率密度更高、器件更复杂和新的失效机制，所有这些因素都对单个器件的寿命和可靠性产生了巨大的影响，曾经寿命为100年的器件的生产工艺现在可能只有10年的寿命，这与使用这些器件的预期工作寿命非常接近。较小的误差范围意味着，必须从一开始就考虑器件的寿命和可靠性，从设备开发到工艺集成再到生产不断进行监控，即使是很小的寿命变化，对今天的设备来说也可能是灾难性的。每个芯片上更多器件和更快时钟速度的不断发展，推动了几何形状
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泰克科技 4200A-SCS
- 泰克高性能4200A-SCS 是一个模块化、可定制、高度一体化的参数分析仪，可同时进行电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 电学测试。
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泰克 4200A-SCS 模块化 参数分析仪
- 直接将ACS安装至4200-SCS的嵌入式PC中能让功能强大 的ACS集成测试系统兼有两者优点。小尺寸但功能强大的 4200-SCS测量硬件结合了ACS软件的全自动化特性，能在极小的封装中实现令人印象深刻的测试功能和自动化。使用
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4200-SCS ACS
- 恩智浦半导体(NXP Semiconductors N.V.)日前宣布将收购Athena SCS Ltd.，一家致力于保护快速发展的互联世界安全的解决方案供应商。 此次收购将进一步增强恩智浦面向物联网(IoT)、便携式和可穿戴以及汽车等众多应用领域提供安全解决方案的实力。
恩智浦半导体全球销售和市场执行副总裁Steve Owen表示：“Athena在各类安全连接解决方案的领先嵌入式软件和加密技术开发方面拥有较强的优势。 恩智浦专注于为智能世界创建安全连接，而Athena的专业技术和知
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恩智浦 Athena SCS
- I分析系统优化小电流测量- 引言许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件，以及测量绝缘体或电容的漏流。4200-SCS型半导体特性
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4200 SCS 吉时利 测量
- 硅控制开关SCS(SILICon ControlLED Switch)亦称四端小功率晶闸管。它属于新颖、多功能半导体器件。只要改变 ...
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可控硅 控制 开关 SCS
- I分析系统优化小电流测量- 引言
许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件，以及测量绝缘体或电容的漏流。
4200-SCS型半导体特性分析系统配备可选的4200-PA型远程前置放大器时，可提供非常卓越的小电流测量能力，分辨率达1E–16A。成功测量小电流不仅依赖于使用非常灵敏的安培计，例如4200-SCS型，而
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吉时利 电流测量 4200-SCS
- 吉时利仪器公司(Keithley)，宣布为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在4200-CVU的创新设计中采用了先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验，都能使用该仪器实
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测试 测量 吉时利 4200-SCS 4200-CVU 基础仪器
- 美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布获奖产品——4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本，本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。实验室系统的应用将集成直流和脉冲测量功能与完整的应用工具包结合，为用户提供完整解决方案。功能增强的脉冲发生器插卡和新型的示波器插卡，为半导体技术生产和研究者们提供强大新功能。新升级版本不仅增强了吉时利4200-PIV工具包功能，还提供两种新版应用解决方案，将4200-SCS通用直流与脉冲测量功能进一步扩展到新领域，例如Flash存储器测试
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4200-SCS 半导体特征分析系统 测量 测试 吉时利
scs介绍
SCS
顺序控制系统SCS（Sequence Control System），是指按照规定的时间或逻辑的顺序，对某一工艺系统或主要辅机的多个终端控制元件进行一系列操作的控制系统。
目录
1控制系统
2布线系统
3布线
1控制系统
SCS包括锅炉（BSCS）、汽机（TSCS）的主要辅机设备及系统的控制、联锁、保护功能，SCS设计为子功能组级和驱动级二级控 [
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