新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 业界动态 > 第六届PXI技术和应用论坛成功举办

第六届PXI技术和应用论坛成功举办

作者:时间:2009-06-02来源:电子产品世界收藏

  2009年5月26日,第六届技术和应用论坛( TAC)在北京歌华开元大酒店举办的。本次会议由美国国家仪器有限公司()主办,《电子产品世界》杂志社承办,泛华测控、聚星仪器、凌华科技、Aeroflex、Pickering、VPC、Mac-panel和海泰电子赞助支持,全天有将近600名来自各行各业对技术感兴趣的工程师参加了盛会。


   图1 600名来自各行各业对PXI技术感兴趣的工程师参加了盛会

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/94871.htm

  在这已连续举办六年的技术盛会中,我们可以看到,PXI已逐渐成为业界公认的自动化测试与控制领域的首选平台。今年的会议主题仍将是以软件为核心的下一代自动化测试系统,同时以2009年自动化测试的五大发展趋势为主线,贯穿于整个会议的技术演讲与产品展示中。为此,公司携手PXI联盟的其他厂商,共同搭建了二十余个展台,展示了PXI技术在不同应用领域的价值。

  
  图2 人头攒动的大会现场

  在今年的主题演讲中,现任PXI系统联盟(PXISA)技术委员会主席的Mark Wetzel先生代表PXISA致欢迎词,在演讲中,Wetzel先生为观众带来PXI在全球的应用情况,并结合PXI技术诞生十余年来的发展历程和技术优势,展望PXI技术的发展前景,为到场观众描述了PXI技术的美好未来。

 


上一页 1 2 下一页

关键词: PXI 测试测量 NI

评论


相关推荐

技术专区

关闭