R&S总裁强调LTE终端认证测试不容忽视

　　2月18日，在巴塞罗纳的2009年移动通信世界大会期间，罗德与施瓦茨公司（R&S)总裁兼首席运营官莱赫先生参加了由中国移动，沃达丰，Verizon无线主办的“全球LTE产业峰会”。作为测试仪表厂家的唯一代表，莱赫先生做了“LTE FDD和TDD(TD-LTE)终端认证及测试解决方案“的公开演讲。他首先回顾了终端认证测试在保证GSM/WCDMA成功运营过程中的经验，强调了终端认证测试应成为LTE未来成功发展的重要基础，介绍了R&S公司在LTE国际标准化中所做出的贡献，尤其是在3GPP, GCF, LSTI, NGMN等组织发挥的积极作用。同时讨论了LTE成功商用过程中还需要进一步完善的工作。详细介绍了R&S公司领导LTE的测试解决方案，以及公司将在LTE未来发展中的产品规划。这一发言充分显示了R&S公司对LTE发展的突出贡献，以及对LTE未来发展的信心。

　　来自全球超过200名LTE产业界的高层领导参加了这次会议。在与会发言当中，充分展示了全球最大运营商对LTE发展及试验的承诺和清楚的发展路标，以及未来LTE FDD和TDD单芯片的终端前景。关键的完整产业链的发展，具有众多厂商和运营商支持的良好产业生态前景。发言同时充分表达了全球终端认证的重要基础性作用。