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JTAG测试(05-100)

—— JTAG测试
作者:时间:2009-02-23来源:电子产品世界

  现在,边界扫描技术可用于以器件为中心方式的测试中,使得在开发、调试和生产测试环境中采用()测试技术。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/91571.htm

  技术是指每个器件引脚的测试点都建在器件内,并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试。这种测试技术的特点是:

  ·PC成为完整的测试系统;

  ·成本低,开发时间短及通用硬件。随着元件封装密度继续增加,测试和调试的物理接入正在减少。几年前就预见边界扫描测试能解决此问题,但是,当时只有少量器件符合JTAG。现在,解决测试接入问题已取得进展,用JTAG作为解决问题的技术,正在使人们更加关注,使得半导体厂家在不断地推出JTAG依从器件。

  

 

 

  图1 开发系统流程图

  避免用探针探测

  对于区域阵列互连的表面贴装器件(如BGA、微型BGA封装以及芯片规模封装)采用针床测试产品是困难的,避免用测试工具进行探针探测。

  JTAG能提供一种解决方案,但是,第一代JTAG测试开发是以板为中心方法,这意味着任何板变化在对修改的板进行测试前,也需要新的测试向量。这不适合于开发工作,在开发工作中,短时间内设计要多次改变。

  然而,把元件边界扫描描述语言(BSDL)文件与板排线表列和测试描述结合起来,通过板本身的地址和数据总线,对安装在板上的很多器件(不管它们是JTAG依从与否)接入是可以的。

  一个特殊器件的BSDL文件通常可从供应商免费得到。另一方面,用高级语言可容易地写测试描述。自动化工具可以快速地接入JTAG和非JTAG元件,用BSDL文件,板排线表列和测试描述作为输入数据。这允许在开发环境中容易修正测试。此外,以后每次器件用在项目中时,可以从库中重新调出和重新使用BSDL文件和测试描述。


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