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科利登在IC China 2005展出高量产测试系统

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作者:时间:2005-08-23来源:收藏

    2005年8月22日,来自中国北京的消息:系统公司 (纳斯达克代码:CMOS) 日前宣布将参展2005年 8月24号至26号在北京举行的IC China 2005。该展会是半导体设备供应商及电子行业的一个首要集会,它由中国半导体工业协会和中国贸促会电子信息行业分会(CCPIT-ECC)共同举办。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/7752.htm

    为了满足中国区域快速增长的低成本市场需求,将展出Sapphire家族的最新成员Sapphire D-10系统。Sapphire D-10是一款创新的高产能多功能的圆片和封装测试系统,特别用于应对微处理器,无线基带,显示驱动控制器及低成本消费类混合信号器件的低成本测试的需求。支持200Mbps的圆片测试,同时还支持高并行度的产品测试,Sapphire D-10非常适合支持中国半导体工业的快速发展。

    的首席执行官Dave Ranhoff说:“随着去年中国电子信息制造产业3203亿美元的销售总额,中国已经成为全球最大的电子信息产品制造地之一。积极地参与和支持IC China这样的展会和行业集会,是科利登公司对快速增长的中国半导体市场及本地客户的承诺和义务之一。”
 
    除了Sapphire D-10系统,科利登还将突出其非挥发性存储器测试和汽车电子测试的解决方案,并会有三场技术论文报告――”闪存测试的复杂性”,”汽车电子测试的低成本解决方案”和”使用真正的模块化高产能测试系统结构来降低测试成本”。IC China 2005将在北京海淀展览馆举行,科利登展台号:3号馆B10。



关键词: 科利登 测试测量

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