NI平台化方案邀您共创物联时代

近日，在NIDays 2015会上，NI以“共创物联时代”为主题，发布了针对物联网应用的各种新产品新技术，全面开始向物联网应用进军，希望以物联网为业务拓展重点，与客户和合作伙伴一起，共同迎接物联时代的商业机遇。

在主题演讲中，NI亚太区副总裁 Chandran Nair代表NI公司向与会的几百名工程技术人员致辞，并希望NI新成立的亚太区能够更好的为中国客户提供先进的技术和贴心的服务。NI嵌入式产品全球市场总监 Jamie Smith则重点介绍了NI在工业物联网方面提供的平台化解决方案的宏观策略，以及如何借助先进的FPGA和ADC等产品，更好地发挥NI在物联网应用中的技术价值。随后NI的技术市场工程师通过具体的案例，诠释了NI如何在LabVIEW、PXI及CompactRIO等多个平台基础上，为众多客户提供个性化的技术支持。

作为测控和数据采集技术的领导者，NI除了原有的产品和技术可以广泛应用到物联网应用之外，在本次NIDays上还特别推出了基于开放、灵活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架构的全新嵌入式系统硬件。该硬件包含了以下三个控制器：高性能CompactRIO控制器 ，适用于需要系统坚固可靠、环境严苛的工业应用领域的工程师和系统集成商；FlexRIO控制器，适用于高性能嵌入式应用设计工程师；以及Single-Board RIO控制器，适用于需要提高嵌入式应用灵活性的设计工程师。这些控制器集成了来自Intel和Xilinx的最新嵌入式技术，旨在帮助系统设计工程师和机器开发人员应对最严峻的控制和监测挑战。控制器基于SELinux ，完全受到LabVIEW软件、LabVIEW FPGA模块和NI Linux Real-Time的支持，为工业物联网应用提供了高级的安全功能。为了满足不断变化的工业物联网需求，NI平台集成了智能系统、各种连接选项和系统间通信功能，同时提供了专业的分析软件工具来帮助用户获得商业洞察力以及为客户提供附加值。

NIDays另一个重量级的新产品发布是无线测试系统(WTS)，一款可大幅降低批量无线生产测试成本的解决方案，WTS 结合了最新的PXI 硬件，为多标准、多DUT 和多端口测试提供了一个统一平台。该系统结合TestStand 无线测试模块等灵活的测试序列生成软件，可帮助制造商大幅提高并行测试多个设备时的仪器利用效率。WTS 可轻松集成到生产线中，提供了可立即运行的测试序列来测试采用Qualcomm 和Broadcom 芯片的设备、集成式DUT 和远程自动化控制。借助这些

为了突出今年的共创物联时代的主题，本次NIDays特别邀请了产业链的伙伴通过“IoT Summit”的形式，共同探讨IoT带给工业企业的机遇。受邀的嘉宾包括美国辛辛那提大学特聘讲座教授李杰教授，清华大学精密仪器系王雪教授，赛灵思ISM高级技术营销经理罗霖，HIS亚太区工业自动化张键总监，几位业内专家与NI中国区市场经理汤敏共同就IoT和工业物联网在全球与国内的市场发展和现状进行了深入的探讨。