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创新,跨越历史与未来

—— 罗德与施瓦茨公司参展EDICON 2015
作者:时间:2015-03-30来源:电子产品世界收藏

  电子设计创新大会(2015)将于2015年4月14 - 16日在北京奥林匹克公园西侧的国家会议中心(CNCC)举行。这是一年一度的行业盛事,以应用、新兴技术和实用工程解决方案为重点,关注中国创新前沿,汇集了世界领先跨国科技公司的设计师。HF/HS电子设计创新大会包括来自业内高管和政府官员的主题演讲、技术报告、研讨会、专家论坛、展览和联谊酒会。为期三天的会议为设计工程师和系统集成商提供了解针对当今通信、计算、RFID、工业无线监控、导航、航空航天及相关市场的最新RF/微波和高速数字产品和技术的机会。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/271788.htm

  

 

  来自德国的公司是欧洲最大的电子测量仪器公司和全球最大的EMC系统集成公司,将参加主题演讲、演技术报告、研讨会、专家论坛、展览展示,同时也是此次大会的钻石赞助商。届时,公司将有多位来自德国的专家和中国本地的专家,全方位介绍公司在微波毫米波、4G、5G、雷达、元器件、电磁兼容、通用电子、航空、汽车等领域的最新测试技术和最新的电子测试与测量仪器,共计1个开幕主题演讲、19个技术报告(论文收录)、2场专题研讨会、1个专家论坛和12个主题展示。

  罗德与施瓦茨公司执行副总裁兼测试与测量部总裁Roland Steffen 先生将出席开幕式并作主题演讲,题目是“电子设计与生产中测试与测量仪器的市场趋势与挑战”。

  19个技术报告:用矢量网络分析仪测试高速PCB板、包络跟踪测试方案和结果分析、60 GHz范围内WLAN 802.11ad 的频谱和调制测量、示波器的16位垂直分辨率、现实场景中的多实体基站高效测试、最新物联网射频和协议测试、用于5G毫米波信道探测的小型测量系统、5G测试和测量中的信号和频谱分析挑战、航空和国防应用的超高清影像技术、雷达长脉冲序列的分段捕获分析、现代雷达应用中的500 MHz或2 GHz宽带捷变频信号的自动分析、雷达的综合测试、使用矢量网络分析仪测量无源互调、利用调制信号测量S参数、大信号条件下的小电压变化分析、相位相干信号测试挑战与应用、使用现代VNA测试技术应对多端口器件的挑战、通信和航空与国防领域的复杂的射频环境挑战、提高敏捷变频合成器的测试效率的方法。

  2个研讨会:基于测试技术的功率放大器的设计与优化、雷达复杂电磁环境仿真和评估方法

  1个专家论坛:5G的发展与未来

  12个主题展示:VoLTE测试技术、雷达信号与产生技术、毫米波元器件测试解决方案、功率放大器设计与优化测试技术、多端口测试解决方案、最新示波器应用技术、VI测试仪器系列、非线性测量技术、2 GHz带宽Chirp信号解调技术、最新EMI认证测试接收机、全面地汽车电子测试解决方案、5G领域的Channel sounding测试技术

  通过以上参会内容,罗德与施瓦茨公司将向行业内的用户展示一如既往的承诺:为广大客户提供一流的产品、优质的服务以及先进的理念。

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