筑波科技与美商泰瑞达携手ETS 开创化合物半导体IC的动态测试新纪元

图 筑波科技华南区销售总监黃博彥Fred Huang、ETS动态测试方案

筑波科技(ACE Solution)与美商泰瑞达(Teradyne)携手合作，推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT测试整合方案，为半导体行业市场带来突破性的竞争优势。半导体功能测试（FT）向来需要克服各种挑战，包括复杂的案例设计、执行和系统维护、数据分析管理，以及对测试环境稳定性的高度要求。如何以单一机台实现CP与FT测试的一机多用，实现DUT批次特性验证，产线大批量生产並兼顾「动态和静态」测试，成为了业界关注的焦点。

ETS 动态测试整合方案结合多种专为IPM/PIM测试而设计之硬体配置（包括Teradyne ETS-88、PDU、OSCILLOSCOPE、LCR Meter和Test Head），ETS-88拥有双扇区设计，为系统带来高度灵活性，使其能在LAB环境下验证CP&FT。该方案集成动态RDSon测试和AC测试功能，其独特一体化测试头设计，更在静动态测试实现重大突破，确保高度的稳定整合与便利。

该方案展现业界领先的多项优势：DC测试提供1000V/100A (Option: 3KV/1KA)、IV source (12A)、AC测试(2KV/2KA)、SC测试(8KA)、支持动态RDSon、至多10组的多脉冲测试、动静一体式的测试头、小于20nH的测试头杂散电感、最小的电流精度nA等，同时提供多Site的FT测试和CP测试，搭配标准软件客制化，整体开发周期短于两个月，同时能够获得本地服务支持。总体而言，ETS GaN Mos FT以其价格合理、灵活性高和一体化整合等特点，为客户带来全新测试体验。

透过与泰瑞达ETS的合作，筑波科技为客户提供全面的解决方案，实现高效、高便捷性的测试。ETS GaN Mos整合四大关键性能：业界领先的高测试效率、100%高稳定性、灵活高效的动态测试性能，以及自主研发的便捷使用及调适功能软件。这些性能实现重复循环测试，支持任意脉冲数开关测试，实现不同电流等级开关参数的一次性测试，不影响测试时间。此外，还支持多模式的短路电流测试，可实现上下管单管短路和上下管直通短路测试，并可选择VIN和ITRIP(CSC)作为关断信号，测试程序的自动转载及数据输出工具一键操作，在批次测试结束时自动生成Excel格式数据，实现继电器的可视化调适和寿命管控，以及测试项目的快速选择工具。

筑波科技结合泰瑞达ETS在全球超过6600台以上的装机量市场优势，共同提供软件客制化整合策略：融合方案整合设计(探针台/卡、分选机、Load Board、Socket之一站式ATE连接DUT设计)、特殊环境模拟设备、ETS系列、研发类One Box机台，实现AC to DC一体测试（AC/DC），现在到未来的一机实现（650 vs 3KV），单工位到多工位的一架多位（1~16 Site），从研发到量产（CP/FT/Module）、单机到整合（Customized Software）等全方位方案。筑波科技在台湾及中国深圳设有半导体工程中心，可提供本地化的即使服务。