NI引领PXI发展新潮流，打造更智能的系统测试

　　NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI)近日在上海举办了第十三届“PXI 技术和应用论坛”(PXI Technology & Application Conference，即 PXI TAC)。作为PXI标准的发起者，每年一度的PXI TAC已经成为国内PXI技术应用的新成果展示舞台，NI携手众多合作伙伴共同为600余名行业领军人物、技术专家和相关机构代表展示了基于PXI技术实现的各种系统设计理念，共同分享最新、最全、最前沿的测试领域技术干货，探讨PXI技术的发展趋势和应用案例。

　　本次PXI TAC的主题为“更智能的系统-更智能的系统测试”， 在今年的PXI TAC上，NI发布了7位半数字万用表(DMM)、802.11ax无线测试解决方案、用于毫米波(mmWave)的软件无线电(SDR)和模块化源测量单元(SMU)等多款业界首创的PXI新产品，再度引领PXI技术发展的新潮流，致力于帮助用户打造更加智能的系统测试解决方案。同时，15家国内外知名PXI供应商和系统集成商亮相本次PXI TAC，展示了他们基于PXI技术开发的各项产品和技术应用。

　　自NI推出PXI技术以来，PXI平台现已成为了自动化测试和控制的主流平台。和传统仪器相比，PXI平台具有较高的测量能力，低延迟和高带宽，软件灵活定义，集成定时和同步，高处理性能，尺寸、重量、功耗小，平台仪器齐全等优点;并且PXI平台可以作为整个系统的中心，连接已有的其他仪器，如LXI，VXI，USB，GPIB等，在最大可能减少系统瓶颈的情况下，保持已有设备投资。因此，越来越多的客户使用PXI平台的仪器开展自动化测试。据Frost & Sullivan预测，到2021年，PXI平台作为整个仪器行业的主力增长力量，将会一直以超过15%的增长率持续增长。

　　图：NI全球市场高级副总裁Ajit Gokhale

　　NI始终致力于PXI技术的不断进步，并在这一领域不断投入和持续创新。随着以物联网为代表的智能系统的兴起，智能设备呈爆炸式增长态势，对测试和测量任务提出更加严峻的挑战。“在物联网的大背景下，智能设不断涌现，形成了更智能的系统，这就必然需要更加智能的测试系统。凭借开放灵活的软件、模块化的硬件和完整的生态系统，PXI平台获得了自动化测控领域工程师的一致认可，”NI全球市场高级副总裁Ajit Gokhale表示，“作为PXI平台的发明者和市场领导者， NI多年来坚持将PXI TAC打造成开放、自由的技术交流平台。我们期待与各界同仁携手，促成PXI平台的持续创新，应对测试测量任务越来越严峻的挑战。”