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罗德与施瓦茨参加第二届全国太赫兹科学技术学术年会

作者:时间:2016-04-25来源:电子产品世界收藏

  2016年4月13-15日,第二届全国科学技术学术年会在北京会议中心成功召开,本次会议由中国电子学会分会、电子科技大学科学协同创新中心、中国科学院电子学研究所联合主办,太赫兹科学技术前沿发展战略研究基地、中国科学院电磁辐射与探测技术重点实验室、中国科学院高功率微波源与技术重点实验室、中国电子科技集团公司第十三研究所专用集成电路国家级重点实验室、中国电子科技集团公司第十二研究所微波电真空器件国家重点实验室共同承办,得到了中科院、自然基金委等多个部委项目支持。参会代表来自国内多所高校、研究机构、专业学会以及相关部门、公司在内的70余家单位,与会专家及参会代表300余人。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201604/290223.htm

    

 

  北京会议中心主会场

  会议邀请了多位太赫兹领域的专家,围绕新型太赫兹辐射源、太赫兹量子级联激光器、太赫兹高灵敏探测器、太赫兹探测阵列、太赫兹天线、太赫兹成像技术、太赫兹通信技术等方面做大会学术报告,展示了太赫兹技术领域最新研究成果和发展前景。

  公司在太赫兹辐射源分会场做了题为“传承、创新、超越 — 最新太赫兹测试系统”的报告,介绍了新一代太赫兹网络分析仪测试系统、太赫兹信号源、太赫兹信号与频谱分析仪、太赫兹功率计和太赫兹组件等,同时讨论了太赫兹测试系统在太赫兹雷达、太赫兹通信和太赫兹成像中的应用及其优异的指标和独特的功能,介绍得到了与会专家及工程师的好评和广泛关注。

  同时罗德与施瓦茨公司在会场进行了仪器展示,展示了太赫兹网络分析仪测试系统R&S®ZVA和R&S®ZVA-Z110E,最新的频率高达85GHz的实时频谱分析仪R&S®FSW。与会代表与罗德与施瓦茨的工作人员进行了深入的技术探讨,与会领导和专家对这种学术交流与科研成果实物展示相结合的会议形式给与充分的肯定。



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