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EDI CON 2013在北京如期召开

作者:万翀时间:2013-04-25来源:电子产品世界收藏

  2013年3月12~14日,由Microwave Journal及其中文版《微波杂志》主办的电子设计创新会议( CON 2013)如期在北京顺利召开。 CON为当前通讯、计算、RFID及工业无线监测等领域的学者、工程师提供最新的RF微波及高速率传输产品和技术,以及多层次的行业学习机会。 CON会议主要聚焦在实际应用、新兴技术和实际工程案例分析,邀请到了行业和技术领域的领导厂商来承办技术研讨会、分组分会和专家讲座,把展览和会议紧密地联合在一起。安捷伦、罗德与施瓦茨、泰克、国家仪器等多家测试测量领域的主要厂商都参与其中。EDI CON邀请到了众多国内外知名的学者参与,其中,欧洲太空总署电磁学和空间环境部主任Bertram R. Arbesser-Rastburg先生在开幕式全体会议上介绍了在空间应用中的现状,空间应用对于的特殊要求和影响等。作为相关领域重要的会议和展会第一次在中国举办,无疑对国内外微波技术相关领域的交流有着推动作用。  

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/144678.htm


关键词: EDI 微波技术 201304

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