NI参加2012 TD-LTE测试技术研讨会

　　美国国家仪器公司(National Instruments, 简称NI)于2012年11月23日参加了由工业和信息化部电信研究院和TD技术论坛联合举办的2012 TD-LTE测试技术研讨会。NI在此研讨会上发表了题为"重新定义移动通信测试——从研发验证到制造测试"的精彩演讲，演讲人NI中国无线通信行业市场经理汤敏被评为"企业演讲最佳演讲人"。　　

NI中国无线通信行业市场经理汤敏正在进行演讲

　　在演讲中汤敏为到场嘉宾介绍了NI是如何通过为无线通信领域的工程师和科学家提供丰富的软硬件工具从而提高测试效率、加速设计创新。NI的无线通信测试方案，采用以软件为中心的模块化射频仪器构架，基于现成可用的模块化硬件设备，通过丰富的射频与无线工具包以及IP共享，从TD-LTE到最新的802.11ac，工程师可快速实现从研发验证到生产测试的一体化流程：对于研发验证，通过提供基于软件无线电架构的开放式测试验证平台，助力企业和研究院所的自主创新和自主知识产权;对于制造测试，通过提供高速并行式产线测试平台 ，为企业提供高性价比的一站式测试解决方案 。

　　NI还在现场设置了展台，向到场的嘉宾展示了NI在无线通信领域的最新产品和技术，其中包括业界首款矢量信号收发仪(VST)，它在单个PXI模块化仪器中，结合了矢量信号分析仪、矢量信号发生器与用户可编程的FPGA模块。对于射频领域来说，它可以进行多协议多终端并行测试，方便地实现了单套测试系统并行测试四个待测终端，具体包括GSM的校准与综测、WCDMA的校准与综测、WiFi测试、Bluetooth测试以及GPS测试等，为进一步提升测试效率降低测试成本提供了一站式解决方案。　　

与会嘉宾在参观NI的展台

　　测试技术是TD-LTE发展产业链上十分关键的一环，未来TD-LTE产业将面对多模多频的终端发展方向以及移动互联网时代复杂的网络环境，而未来商用智能终端尤其是TD-LTE终端的最大消费和生产国是中国，这对今天的测试技术、测试仪器提出了巨大挑战。NI希望能抓住此机遇，为研发验证及制造测试的工程师们提供一个统一的平台，帮助他们降低测试成本，从而提高产品的市场竞争力，来为整个TD-LTE产业发展做好铺垫。