使用LabVIEW和NI PXI 测试ASIC

　　"我们的虚拟仪器构建在LabVIEW所编写的专用软件的基础上，因此用户可以设置适当的测试配置、ASIC参数，并读取数据，然后在图形化用户界面上显示分析后的结果。正是由于基于NI产品构建的这个系统方案，使得我们可以节省一年的测试时间。"

　　– Piotr Maj, AGH University of Science and Technology

　　The Challenge:

　　设计和测试针对物理学和生物学应用中的专用集成电路(application-specific integrated circuits, ASIC)。

　　The Solution:

　　使用NI LabVIEW软件和PXI硬件创建虚拟仪器，以尽可能快地测试ASIC

　　Author(s):

　　Piotr Maj - AGH University of Science and Technology

　　介绍

　　我们的物理解决方案能够检测低能量、高密度的X射线辐射(见图1)。我们设计了专用的X射线探测器的读数ASIC，如DEDIX[1]、RG64[2]和SXDR64[3]，这些都是用于读取硅条探测器，以及诸如PX90[4]的芯片(该芯片采用90纳米CMOS技术构造，并用于读取像素探测器(见图2))。我们的芯片包含多达几千个读数通道，以单光子计数模式工作，这意味着如果某个撞击探测器的光子的能量超过一定的阈值，读数通道就可以对其计数。所有的芯片都包含模拟和数字部分，并具有数字通信接口，用于控制ASIC并输出所采集的数据。每个接口可能有不同数量的针脚，可以与不同的数字I / O一起工作，速度高达200MHz。我们需要尽可能快地测试ASIC，得到结果并作进一步的处理。

图1. 使用DEDIX ASIC进行X射线检测

　　我们对ASIC进行测试，以确保制作的芯片参数满足要求。为此，我们需要与芯片进行通信，以比特流的形式采集数据，并将其转换为有意义的表示方式。然后，我们需要测量物理参数(在此案例中，即测量给定时间内的光子数)，并根据所获取的数据计算ASIC模拟参数。我们需要以最佳的方式表示结果，从而尽可能地得到正确的结论。市场上没有能够满足这种要求的现成设备，因此，我们决定使用NI 产品自己开发。