2011第四届国际测试仪器及应用大会将在上海举行

　　主办：《电子产品世界》杂志社　慕尼黑(上海)有限公司

　　时间：2011年3月15日

　　地点：上海新国际博览中心

　　测试测量技术始终保持着广泛而活跃的市场需求，特别是在被动元件测试和高性能电子测试上的发展潜力巨大。扩大内需的政府举措更是给测试测量产业发展的巨大空间，其中很大一部分投入集中在与国防、航空航天和高性能测试领域，促使中国高端测试测量市场逆势上扬，保持旺盛的活力。有鉴于此，《电子产品世界》将举办“第四届国际测试仪器及应用技术大会”，会上将探讨如何选择最新的测试测量仪器产品和测试测量解决方案，为广大参会者带来对测试测量领域的全新了解，并且对他们的实际工作有指导作用。论坛面向测试测量仪器的应用人员和测试系统开发者及应用者，包括工业、通信、航空航天、国防等行业的研发与应用工程师、教育工作者。

　　《电子产品世界》杂志社与慕尼黑(上海)有限公司将于2011年3月15日在上海新国际博览中心共同举办“EEPW第四届国际测试仪器及应用大会(ITMAF2011)” 期待您的参与!

　　主要议题

　　主题(上午)：测试应用与数据采集

　　主题(下午)：半导体及生产设备测试测量解决方案

　　半导体测试技术

　　无源器件测试解决方案

　　高可靠性测试测量解决方案

　　航空航天测试应用与数据采集

　　自动化测试方案平台设计与解决方案及最新发展趋势

　　雷达、射频微波测试测量解决方案

　　苛刻环境下对测试测量仪器的特殊要求

　　目标听众

　　测试测量仪器的应用人员和测试系统开发者及应用者，包括集成电路半导体、工业、通信、航空航天、国防等行业的研发与应用工程师、教育工作者。