新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 设计应用 > 选择硬件在环(HIL)测试系统I/O接口

选择硬件在环(HIL)测试系统I/O接口

作者:美国国家仪器公司(NI)时间:2010-06-10来源:电子产品世界收藏

  图像采集

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/109896.htm

  智能相机家族提供了VGA(640×480象素)和SXGA(1280×1024象素)解析度,使用它可以将图像分析添加到硬件在环测试系统中 验证仪器面板显示或执行器响应。通过在板载PowerPC和数字信号处理(DSP)协处理器上直接处理图像,能够确保对硬件在环测试系统产生最小的影响。

  运动控制

  提供了一系列运动控制解决方案,其中包括包含完整功能的高性能控制器,可用于最复杂的需求和低成本运动控制器,满足点对点运动控制应用的需求。运动控制产品提供了高级功能,帮助您有效实现例如精确定位、多轴同步和以已定义的速度、加速度或减速度运动等通用任务。

  第三方硬件支持

  使用PXI多厂商标准提供了来自70多个厂商的超过1200种产品,确保NI硬件在环平台始终满足您的硬件在环应用需求。

  总结

  如果您希望在硬件在环测试系统中实现硬件故障插入,请了解NI硬件在环平台上的可用选择。

  要完成您的硬件在环测试系统,了解用于硬件在环测试系统实现的软件技术,包括测试自动化、需求管理、建模、分析以及报告,请阅读开发硬件在环(HIL)测试系统应用。

  访问http://www.ni.com/hil/zhs寻找更多帮助您进行硬件在环测试系统开发的资源,或是了解其他人如何使用NI硬件在环平台获得成功。


上一页 1 2 3 下一页

关键词: NI LabVIEW

评论


相关推荐

技术专区

关闭