选择硬件在环（HIL）测试系统I/O接口

　　确定性分布式I/O

　　NI提供了全新的确定性分布式I/O产品，帮助您创建基于I/O的分布式硬件在环测试系统，降低布线成本和复杂性。从一系列I/O模块中进行选择，创建分布式I/O接口通过确定性的以太网与您的实时处理器进行通信。

　　总线接口

　　许多ECU使用通信总线接口与系统中的其他设备共享信息。NI提供了多种军事/航天、汽车和工业总线接口，您还可以使用基于NI FPGA的I/O接口为您的硬件在环测试系统实现定制协议。

　　NI AIM PXI模块的选择包含MIL-STD-1553、ARINC 429以及AFDX接口。每个模块都带有板载应用程序支持的处理器、丰富的板载内存和IRIG-B时间代码生成器/解码器，满足硬件在环测试系统的需求。 基于PXI的模块能够使用PXI背板提供的高级定时与同步功能。

　　NI CAN与FlexRay接口基于通用API，使用集成数据库用于对FIBEX、.DBC和.NCD文件的信号进行导入和编辑。还提供了DeviceNet、Modbus、PROFIBUS、RS232、RS485和RS422接口。

　　仪器级I/O

　　NI模块化仪器在模块化尺寸中提供了仪器级测量和信号发生，您可以集成到硬件在环测试系统中。从一系列数字万用表(DMM)、示波器、信号发生器和射频仪器中进行选择，然后在软件中进行配置满足您特定测试系统的任务需求。