- 受电磁干扰影响，单片机的程序读取时会出错，最终造成程序走飞和数据出错。目前广泛采用的看门狗技术只对部分程序走飞现象有效，而对程序执行错造成的数据错无效。根据报道的受干扰而造成数据错概率统计数据，计算出引起MCU系统失效的概率已远大于功能安全要求的失效率。为了解决这一问题，需要对读取的程序指令加以检验。国外有的单片机已经添加了这一功能，即纠错编码(ECC)。本文建议一种简化的检验功能，它基于并行的CRC检验，提出了求取并行CRC检验逻辑的方法。
- 关键字：
单片机 程序纠错编码 并行CRC
程序纠错编码介绍
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