- 受电磁干扰影响，单片机的程序读取时会出错，最终造成程序走飞和数据出错。目前广泛采用的看门狗技术只对部分程序走飞现象有效，而对程序执行错造成的数据错无效。根据报道的受干扰而造成数据错概率统计数据，计算出引起MCU系统失效的概率已远大于功能安全要求的失效率。为了解决这一问题，需要对读取的程序指令加以检验。国外有的单片机已经添加了这一功能，即纠错编码(ECC)。本文建议一种简化的检验功能，它基于并行的CRC检验，提出了求取并行CRC检验逻辑的方法。
- 关键字：
单片机 程序纠错编码 并行CRC
并行crc介绍
您好，目前还没有人创建词条并行crc!
欢迎您创建该词条，阐述对并行crc的理解，并与今后在此搜索并行crc的朋友们分享。
创建词条
关于我们 -
广告服务 -
企业会员服务 -
网站地图 -
联系我们 -
征稿 -
友情链接 -
手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052 京公网安备11010802012473
