- 了解制造商如何表征和估计用于电子元件老化预测的电压参考的长期漂移（LTD）。虽然电压参考的输出在理想情况下应该与温度和时间无关，但现实世界的电压参考可能会受到温度和老化的影响。考虑到这一点，本文将讨论制造商如何表征和估计电压参考的LTD。为了更好地为本文做好准备，阅读之前的文章以了解石英晶体、电阻器和放大器的老化效应可能很重要。电压基准的老化效应总的来说，电压基准的输出会随时间而变化。通常，半导体材料的掺杂水平和封装材料施加到电压参考管芯的物理应力会随时间变化，导致电压参考输出中的LTD。电压参考的LTD
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电子元件老化，电压基准，长期漂移，LTD
- 使用温度计算和Arrhenius方程了解电阻器和放大器的老化行为，以了解电阻器漂移、电阻器稳定性和运算放大器漂移。之前，我们讨论了使用相对较短的测试时间来评估电子元件长期稳定性的高温加速老化方法。在本文中，我们将继续讨论并研究电阻器和放大器的老化行为。老化预测——老化引起的电阻漂移首先，让我们记住电阻器的值会随着时间而变化。在许多电路中，只需要总的精度，电阻器老化可能不是一个严重的问题。然而，某些精密应用需要在指定寿命内长期漂移低至百万分之几的电阻器。因此，开发具有足够精度的老化预测模型以确保所采用的精密
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电子元件老化，电阻，运算放大器，老化效应，Arrhenius
- 了解如何计算老化过程的活化能，以及关于Arrhenius方程在预测晶体老化过程时的有用性的一些相互矛盾的观点。在之前的一篇文章中，我们讨论了高温加速老化方法是一种有效的技术，它使制造商能够使用相对较短的测试时间来确定电子元件的长期稳定性。例如，使用这种方法，从30天的测试中获得的数据可能足以以可接受的精度确定一年后晶体的漂移。为了应用这项技术，我们需要知道衰老过程的活化能。在这篇文章中，我们将了解更多关于计算老化过程的活化能。我们还将探讨关于Arrhenius方程/公式在应用于老化预测问题时的有用性的一些
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Arrhenius方程 电子元件老化
- 了解由于使用石英晶体的温度和时间，以及应用外推方法、老化方程和Arrhenius方程，电子元件的老化和稳定性挑战。即使有固定的输入，电子电路也不是完全稳定的；经常随时间和温度漂移。这些与理想行为的偏差会给精确测量增加相当大的误差。随时间漂移，也称为长期稳定性，是需要长时间高精度应用的关键因素。测量系统的初始精度误差通常可以通过初始校准来消除；然而，消除长期漂移的误差需要定期校准。此外，这些校准在某些工业、医疗、军事和航空航天应用中可能不切实际。在这篇文章中，我们将介绍评估电子元件长期稳定性的高温加速老化方
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电子元件老化，稳定性，高温老化方法
电子元件老化介绍
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