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用Arrhenius方程预测电子元件老化

• 了解如何计算老化过程的活化能，以及关于Arrhenius方程在预测晶体老化过程时的有用性的一些相互矛盾的观点。在之前的一篇文章中，我们讨论了高温加速老化方法是一种有效的技术，它使制造商能够使用相对较短的测试时间来确定电子元件的长期稳定性。例如，使用这种方法，从30天的测试中获得的数据可能足以以可接受的精度确定一年后晶体的漂移。为了应用这项技术，我们需要知道衰老过程的活化能。在这篇文章中，我们将了解更多关于计算老化过程的活化能。我们还将探讨关于Arrhenius方程/公式在应用于老化预测问题时的有用性的一些
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