- 亚微米互补金属氧化物半导体(CMOS)的最新发展，可望进一步扩展RFID技术的应用。高精度供应链管理、无接触POS交易、防伪和资产追踪/监测技术所带来的各项优势，正推动着RFID技术的迅速普及。但是，这种新技术自身也面临着许多测试挑战。本文讨论复杂RFID工作环境中的测试挑战，包括多个阅读器、密集模式环境和预先存在的非RFID信号可能引起的吞吐量和通信问题。
- 关键字：
泰克 RF RFID 工作环境 米勒调制副载波 任意波形发生器 实时频谱仪 200906
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