- 最近主要的半导体制造商承认:研发和生产先进的IC芯片非常需要晶圆级的射频(RF)测试。在一定程度上,这公然...
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晶圆 漏电 非线性 高频 RF 数字 节点
- 加州圣荷塞,2008年4月15日—全球电子设计创新领先企业Cadence设计系统公司(NASDAQ: CDNS)今天宣布授权Cadence® QRC Extraction和Virtuoso® Passive Component Designer使用于TSMC 65纳米工艺设计工具包(PDK).
这次新认证的技术提供了经过测试的、可靠的电感、衬底提取和无源元件设计。QRC Extraction能够进行寄生电感和底层提取,而新发布的Virtuoso Passive Com
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RF Cadence设计系统公司
- 市场研究机构Frost & Sullivan公司最新报告称,目前MEMS测试设备价格高昂,低成本标准化成迫切需求。
报告称,2007年全球MEMS测试设备市场额为5650万美元,而到2014年将增长到1.202亿美元。目前MEMS器件制造商必须面对高昂的设备价格(约100万美元),设备的专用化(customization)也导致了卖主进一步增加成本,另外,MEMS测试设备缺乏灵活性,多数仅能进行电学测试或机械测试。
因此,多数MEMS厂商除非必须才会购买测试设备,而多数用户
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MEMS 测试设备
- 随着系统成本和功耗进一步降低以及产品性能的提高,无线短距离消费电子市场正高速增长。本文将向设计工程师介绍一些市场上出现的新趋势和方案,并介绍RFW102芯片组的特点和应用。
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前端 设计 RF 电子 无线 消费 短距离
- 集成电路自1960年代研发成功,经过几十年的经验积累,它的发展轨迹由摩尔定律作出总结,集成度每18个月增加一倍。与此相对应,表现为逻辑电路的时钟频率每两年提高一倍。测量仪器作为电路开发工具,必须与时共进,不断扩展频率,带宽也要每两年提高一倍。根据统计,数字示波器表现出色,带宽从1GHz提高到16GHz只用去六年时间。示波器是电路开发中最常用的测量工具,测量仪器供给商可用高投入来获得高回报。目前带宽1GHz的产品售价约1万美元,带宽10GHz的产品售价在5万美元,这样的价位只有高级实验室才能用得起,一般
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集成电路 测量仪器 RF 功率计
- 测试系统往往用少量的仪器测量大量信号。这种设计方法制约成本,而且限制测试吞吐量。相反,如果系统具有测试的所有信号和足够的仪器,虽然能较快地提高吞吐量,但通常是成本高而不合算。
低成本测试系统的传统办法是在几个信号间开关转换一个数字电压表(DVM)。若只包含两个信号,则连接DVM用一个单刀双掷开关(SPDT),单刀连接其两个信号之一。若必须开关转换信号的高和低端,则双刀双掷(DPDT)配置是适合的。对于4个信号,可用双刀4掷(DP4T)开关。
应用也存在超过2刀以上的情况。例如,4PDT(4
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测试系统 RF 开关构造
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