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测试系统的开关构造(06-100)

• 　　测试系统往往用少量的仪器测量大量信号。这种设计方法制约成本，而且限制测试吞吐量。相反，如果系统具有测试的所有信号和足够的仪器，虽然能较快地提高吞吐量，但通常是成本高而不合算。 　　低成本测试系统的传统办法是在几个信号间开关转换一个数字电压表(DVM)。若只包含两个信号，则连接DVM用一个单刀双掷开关(SPDT)，单刀连接其两个信号之一。若必须开关转换信号的高和低端，则双刀双掷(DPDT)配置是适合的。对于4个信号，可用双刀4掷(DP4T)开关。 　　应用也存在超过2刀以上的情况。例如，4PDT(4
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