- ByteTools和Tensilica 公司今天共同宣布,Tensilica Diamond标准内核和Xtensa可配置处理器内核的所有客户可以开始获得ByteTools公司为Tensilica设计的低成本Catapult JTAG probe。用户不需要安装任何额外的软件,只需采用Tensilica 提供的软件开发工具,既可使用Catapult Probe。Catapult Probe 的接口是标准的XOCD 14
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JTAG Tensilica 单片机 嵌入式系统 测试测量
- 通常所说的JTAG大致分两类,一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;一类用于Debug;一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。一个含有JTAG Debug接口模块的CPU,只要时钟正常,就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备,如FLASH,RAM,SOC(比如4510B,44Box,AT91M系列)内置模块的寄存器,象UART,Timers,GPIO等等的寄存器。 上面说的只是JTAG接口所具备的能力,要使用这些功能,还需
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Jtag
- 2004年11月JTAG Technology JTAG(联合测试行动组)标准在80代是通用的。JTAG技术实际上称之为IEEE1149.1或边界扫描,由于电子行业几乎每个人都熟悉“JTAG”这个名称,所以“JTAG”用来表示IEEE1149.1技术。 电路内测试器 测试复杂板的老方法是用电路内测试器(ICT)。这种测试方法的测试头是用“钉床”(见图1),焊节点和遮盖的焊球使得这种测
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JTAG
- JTAG口及其对Flash的在线编程,介绍JTAG的定义、结构及引脚的定义,并阐述JTAG状态机的工作原理。
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编程 在线 Flash 及其 JTAG
- 摘 要: 本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用。介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点。关键词: 边界扫描测试;JTAG;电路板测试;可测试性设计引言电子器件的生产商和电子产品的制造商都在倾向于采用最新的器件技术,如BGA、CSP(芯片规模封装)、TCP(倒装芯片封装)和其它更小的封装,以提供更强的功能、更小的体积,并节省成本。电路板越来越密、器件越来越复杂、电路性能要求越来越苛刻,越来越难的接入问题导致了工业标准
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JTAG 边界扫描测试 电路板测试 可测试性设计 PCB 电路板
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