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FFT PFT 滤波器 DFT
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随着数字技术的快速发展,数字信号处理已深入到条个领域。在数字信号处理中,许多算法如相关、滤波、谱估计、卷积等都可通过转化为离散傅立叶变换(DFT)实现,从而为离散信号分析从理论上提供了变换工具。但DFT计算量大,实现困难。快速傅立叶(FFT)的提出,大大减少了计算量,从根本上改变了傅立叶变换的地位,成为数字信号处理中的核心技术之一,广泛应用于雷达、观测、跟踪、高速图像处理、保密无线通信和数字通信等领域。
目前,硬件实现FFT算法的方案主要有:通用数字信号处理器(DSP)、FFT专
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FPGA FFT 处理器 DFT DSP
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有限长序列的DFT(离散傅里叶变换)特点是能够将频域的数据离散化成有限长的序列。但由于DYT本身运算量相当大,限制了它的实际应用。FFT(快速傅里叶变换)算法是作为DFT的快速算法提出,它将长序列的DFT分解为短序列的DFT,大大减少了运算量,使得DFT算法在频谱分析、滤波器设计等领域得到了广泛的应用。
FPGA(现场可编程门阵列)是一种具有大规模可编程门阵列的器件,不仅具有专用集成电路(ASIC)快速的特点,更具有很好的系统实现的灵活性。FPGA可通过开发工具实现在线编程。与C
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FPGA FFT 集成电路 DFT
- 微捷码(Magma)设计自动化公司发表有片上扫描链压缩功能的Talus ATPG与Talus ATPGX。这些先进的自动测试向量生成(ATPG) 产品使设计师能明显改进测试质量, 减少周转时间并且降低纳米级芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX进 入Talus 物理设计环境, 微捷码提供唯一真正实现物理相关DFT(Physically Aware DFT) 的IC 实现流程。 &n
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消费电子 微捷码 Talus ATPG DFT MCU和嵌入式微处理器
- Synopsys宣布珠海炬力已采用Synopsys DFT MAX扫描压缩自动化解决方案实现其0.13微米系统级芯片(SoC)设计,使测试设备相关成本降低了90%。DFT MAX通过片上扫描数据压缩,可显著减少高质量制造测试所需的测试时间和测试数据量。 珠海炬力首席技术官李邵川表示:“作为便携式多媒体播放器(PMP)SoC的领先供应商,我们的产品设计广泛应用于遍布世界各地的便携式消费电子产品中。因此,我们的设计团队需要易于使用而成熟的压缩解决方案,可以降低我们下一代PM
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DFT MAX 测量 测试 节省90%测试成本
- Synopsys宣布,珠海炬力集成电路设计有限公司(简称珠海炬力)已采用Synopsys DFT MAX扫描压缩自动化解决方案实现其0.13微米系统级芯片(SoC)设计,使测试设备相关成本降低了90%。DFT MAX通过片上扫描数据压缩,可显著减少高质量制造测试所需的测试时间和测试数据量。 珠海炬力首席技术官李邵川表示:“作为便携式多媒体播放器(PMP)SoC的领先供应商,我们的产品设计广泛应用于遍布世界各地的便携式消费电子产品中。因此,我们的设计团队需要易于使用而成熟的压缩解决方案,
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DFT Synopsys 测量 测试 珠海炬力 测试测量
- Synopsys与联华电子合作,以低功耗和DFT功能加强90纳米参考流程 针对联华电子的90纳米工艺,Synopsys的 Galaxy®设计平台业已通过多电压 (Multi-Vdd)功能的实战验证 全球电子设计自动化软件工具(EDA)领导厂商Synopsys(Nasdaq: SNPS)与世界半导体晶圆专工领导者台湾联华电子共同宣布,双方合作以Synopsys的Galaxy™ 设计解决方案平台为基础,针对联华电子的90纳米工艺,在参考设计流程中增
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90纳米 DFT Synopsys 参考流程 单片机 低功耗 合作 联华电子 嵌入式系统
- 三洋看重Synopsys解决方案简便易行及高可预知结果的优势 全球电子设计自动化软件工具(EDA)领导厂商Synopsys(Nasdaq: SNPS)近日宣布,领先的消费类电子产品供应商三洋半导体公司采用Synopsys的DFT MAX扫描压缩自动解决方案,大大提高了其数字设计的测试质量。凭借DFT MAX工具,三洋的工程师们将测试的数据总量降低了90%以上,实现了以更短的时间完成高质量测试的目标。DFT MAX工具充分利用Synopsys Galaxy&
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DFT MAX 测量 测试 测试质量 三洋 测试测量
dft介绍
DFT
随着电子电路集成度的提高,电路愈加复杂,要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间,除了采用先进的测试方法外,另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中,可测试性包括两个方面:一个是可控制性,即为了能够检测出目的故障(fault)或缺陷(defect),可否方便的施加测试向量;另外一个是可观测性,指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。 在集成 [
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