- 半导体制程技术持续精进，随之而来的制程偏移(ProcessVariation)及小尺寸效应，恐导致设计结果的不确定性，因此如何建立完善的统计模型(StatisticalModel)，同时在ICDesign的阶段能够正确地应用统计模型，并且可以进行快速准确的良率分析，有效避免电路性能与良率(Yield)遭受影响，可谓当前重大课题。
回顾2012年6月落幕的DesignAutomationConference(DAC)2012大会，个中最大亮点，无疑正是ProPlus领先EDA业界推出的「整合良率导
- 关键字：
ProPlus EDA NanoYield
proplus介绍
您好，目前还没有人创建词条proplus!
欢迎您创建该词条，阐述对proplus的理解，并与今后在此搜索proplus的朋友们分享。
创建词条
关于我们 -
广告服务 -
企业会员服务 -
网站地图 -
联系我们 -
征稿 -
友情链接 -
手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052 京公网安备11010802012473
