- 9月14日，盖泽华矽半导体科技（上海）有限公司（以下简称“盖泽半导体”），两台自主研发的FTIR膜厚量测设备GS-M08X，正式交付两家客户作为一款量产设备，该机种基于FTIR红外光谱技术，可以精准测量晶圆中多层外延层的厚度，提供高精度的量测结果。设备装配了双臂洁净机械手和全新设计的Stage平台，以及自主研发的光路系统及算法，能更大程度上兼容客户应用场景，也让测量效率大幅度提高。增加了Online在线技术，遵循SEMI标准协议，可无缝连接客户OHT/MES等系统。同时，设备实现测量自动化控制和自动化运行
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半导体 FTIR 外延膜厚 量测
- 本文介绍了多点触摸控制系统的基本原理，分析了常见的基于光学感应的多点触摸实现方案，深入研究了基于Touchlib的多点应用系统框架，及其与上层应用程序之间的数据传送协议和方法，并给出了一种基于70寸高清背投电视的大尺寸光学感应多点触控应用系统解决方案。
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康佳 多点触摸 FTIR LLP Touchlib 200909
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