三星乐观看待智慧手表市场成长趋势，今日宣布推出全新Galaxy Watch FE，集结耐用的蓝宝石玻璃设计及亮眼外型、完善的运动追踪与全方位健康监测功能，以亲民价格即享众多优异体验。Galaxy Watch FE（蓝牙版）共推出「曜石黑」、「玫瑰金」、「星夜银」三款颜色，建议售价NT$5,990，自6月下旬起于全台各大通路正式上市，消费者凡于7月16日前在全通路购买三星不限型号手机或平板，即可现折NT$1,000加购Galaxy Watch FE，五千有找轻松入手，开启崭新智慧生态圈体验。三星电子行动通讯
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三星 Galaxy Watch FE 智能手表
在圆桌会议上，半导体工程专家们就“半导体和封装技术日益增加的复杂性将如何推动故障分析方法的转变”展开了讨论，讨论嘉宾包括Bruker Nano Surfaces&Metrology应用与产品管理主管Frank Chen、Onto Innovation企业业务部产品管理主管Mike McIntyre、Teradyne的ASIC可靠性工程师Kamran Hakim、赛默飞世尔科技高级产品专家Jake Jensen以及赛默飞世尔科技高级营销经理Paul Kirby。以下是这场讨论的精彩摘录。[从左到右]
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先进封装，FA SEM TEM
最先进的电子硬件在大数据革命面前都显得有些“捉襟见肘”，这迫使工程师重新思考微芯片的几乎每一个方面。随着数据集的存储、搜索和分析越来越复杂，这些设备就必须变得更小、更快、更节能，以跟上数据创新的步伐。铁电场效应晶体管（FE-FETs）是应对这一挑战的最有趣的答案之一。这是一种具有铁电性能的场效应晶体管。它利用铁电材料的非易失记忆性质，在其中植入场效应和电荷积累，实现了长期稳定的记忆效应。与传统存储器相比，它具有低功耗、高速度、高密度等优势。因此，一个成功的FE-FET设计可以大大降低传统器件的尺寸和能量使
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半导体芯片 FE-FET
是德科技公司日前宣布，其最新型场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)――8500B 即将上市。Keysight 8500B 是一款技术领先的紧凑型低电压 FE-SEM(场发射扫描电子显微镜)，可以为科学家提供强大的能谱分析功能。
这款场即插即用型发射扫描电子显微镜的安装方式非常简单，只需连接交流电源插座即可使用，是各类实验室的理想选择。紧凑型 8500B 的图像分辨率可与更大型、更高档的 FE-SEM 相媲美。
最新 8500B 系统具有完全集成的硅漂移 x 射线探测器、数字多通道分析仪和直
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是德科技 FE-SEM
TI ADS1x9x心电图模拟前端(ECG FE)解决方案,* TI ADS1x9x心电图模拟前端(ECG FE)解决方案TI公司的ADS1x9x系列包括ADS1291, ADS1292和ADS1292R器件,是低功耗两路24位心电图模拟前端(ECG FE),集成了可同时取样的24位delta-sigma (Delta;Sigma;) ADC和可编增益
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ADS1x9x ECG TI FE
Matlab图像增强与复原技术在SEM图像中的应用,0引 言 根据国内外的相关文献，研究和发展图像处理工具，改善图像质量是当今研究的热点。图像增强与复原是一种基本的图像处理技术。其按照特定的需要突出一幅图像中的某些信息或强化某些感兴趣的特征，将原来不
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图像 SEM 应用 技术 复原 增强 Matlab
基于Matlab的图像增强与复原技术在SEM图像中的应用, 0引 言 根据国内外的相关文献，研究和发展图像处理工具，改善图像质量是当今研究的热点。图像增强与复原是一种基本的图像处理技术。其按照特定的需要突出一幅图像中的某些信息或强化某些感兴趣的特征，将原来
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图像 SEM 应用 技术 增强 Matlab 基于 复原
adSage继2007年底在北美地区推出ad Intelligence和ad Management引起北美SEM行业重视后，在2008年2月，adSage（中国）公司与百度合作，最先推出百度竞价排名广告系统管理工具 adSage for Baidu，成为基于百度API的第一款搜索营销（SEM）工具，这也标志着中国SEM市场受北美SEM市场发展的影响，迅速进入到与国际接轨的时代。
而2008年3月，百度与美国网络业务优化软件提供商Omniture开展战略合作，百度将向Omniture开放AP
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SEM
近日，应用材料公司推出最先进的缺陷再检测SEM(扫描电子显微镜)SEMVision™ G4系统，它将应用材料公司非常成功的SEMVision系统的技术和生产能力提升到45纳米及更小的技术节点。SEMVision G4系统的关键在于全新的SEM聚焦离子枪技术和增强的多视角SEM成像系统(MPSI)，他们具有卓越的2纳米物理精度，能提供无与伦比的成像质量，其每秒一个缺陷的检测速度也设定了新的基准。
应用材料公司工艺诊断和控制事业部SEM部门总经理Ronen Benzion表示：“45纳米
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测试 测量 应用材料 EMVision G4 SEM 测量工具
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