- 摘要:本文介绍了虚拟仪器技术在引信软件安全性测试系统中的应用。针对引信软件安全性测试的特点,采用PCI-6040E数据采集卡和虚拟仪器开发系统LabVIEW 进行了系统开发,使复杂测试系统的设计与实现都变得简便,高效。
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虚拟仪器技术 安全性 测试系统 引信软件
- SAE预测,到2010年,汽车中的电子设备平均将占到总价格的 40%!以美元为单位,2008年独立半导体器件的销售额约为200亿(源自Databeans公司的市场调查)。这一数字因为众所周知的原因在2009年将有所下降,但这是暂时性
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设计 测试系统 单元 控制 汽车电子
- 吉时利仪器日前推出六槽707B型和单槽708B型开关矩阵主机,它们针对实验室和生产环境下的半导体测试应用进行了优化。这些开关主机大大提高了命令到连接的速度,可以实现更快的测试序列和更高的总体系统产能。
这些新型主机支持吉时利7174A型“云阵(Air Matrix)”8x12高速、低漏流矩阵卡,这是第一款能够在所有通路上实现低于100fA偏移电流的标准开关。707B和708B还支持其它三种常用的吉时利矩阵卡。707B和708B非常适合于包含下列仪器的测试系统配置:例如吉时
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吉时利 半导体 测试系统
- 实时嵌入式产品的测试系统设计,摘要:主要介绍针对高实时性的嵌入式产品而开发的测试系统的设计,简单介绍了被测试系统的特性,从整个测试系统的设计思想、设计原理,包括软件和硬件等方面,给出详细的介绍。另外,比较了不同方案设计的优缺点,为
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嵌入式 测试系统 RTX FPGA 通信
- 1 概述 在微波探测系统中,通常天线都是系统自动控制环路的闭环点。天线作为一个收/发控制系统的重要组成部分,其性能的优劣,将直接影响到全系统的检测能力和探测精度。本文只探讨网络分析仪在天线S参数测试
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矢量网络分析仪 测试系统
- 太空旅行是最早采用燃料电池技术的产业。从那时开始,燃料电池技术有了长足的进步,其应用如今已遍及从笔记本电脑和 MP3播放器到混合动力汽车甚至建筑物等各个领域。随着燃料电池的应用不断增多,设计工程师不但需要
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测试系统 电池 燃料 伸缩
- 首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷 (Verigy) 在其经生产验证的 V93000 平台中新增了 Direct-Probe™ 解决方案,从而提升了该平台的可扩展性。这款面向数字、混合信号和无线通信集成电路 (IC) 的高性能探针测试(probe test)产品在进行量产、多点探针测试时表现出最高的信号完整性。
新的 Direct-Probe 创新型射频 (RF) 解决方案降低了射频器件、高接脚数 (high-pin-count)数字器件以及复杂的混合信号器件的测试成本,使全球半导体市场
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惠瑞捷 测试系统 Direct-Probe
- 通常需要测量太阳能电池的几项关键参数。这些参数是: ● VOC――开路电压。在电流等于0时的电池电压。 ● ISC――短路电流。当负载电阻等于0时,从电池流出的电流。 ● Pmax――电池的最大功率输出。电池输
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测试系统 功率 输出 太阳能电池
- 介绍了在低压电力线信道环境下点对点载波通信模块的通信性能测试系统的设计。测试系统结构简单,实用性强,能够实现点对点通信误码率测试、有效通信速率测试,并且能够根据测试结果综合评价通信模块的性能,既能够横向比较不同厂家的载波通信模块的通信性能,还可以纵向比较同一厂家不同类型的载波通信单元的通信性能,通用性强。
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通信 设计 实现 测试系统 性能 电力线 低压
- 摘 要: 设计了一种可同时测试多个参数,功能综合的风力发电机测试系统。分析了两种A/D芯片与DSP的连接电路,在系统前端对待测的高电压与高电流进行信号调理,实现A/D芯片与DSP芯片之间并行的连接方式。利用DSP定时
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风力发电机 测试系统 实验
- Abstract― 一种用于射频和微波测试系统的高性能GaAsSb基区,InP集电区 DHBT IC 工艺被成功研发。这种GaAsSb工艺使得在工作电流为JC = 1.5 mA/µm²时fT 和 fmax分别达到了 185 GHz and 220 GHz,JC = 1.3
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晶体管 集成电路 DHBT 技术 双极 异质 射频 微波 测试系统
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在暖通空调范围,随着测试技艺的生长及测试要求的不时提高,一些具有与计算机直接通讯功用的高精度温湿度测试仪表曾经在科研和工程中被普遍运用。但是关于整个测试系统而言,单个仪器本身存在一些限定:
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LabVIEW 测试系统
- 提出了一种基于VB串口通信的电动天窗耐久性测试系统的软硬件实现方案。该系统包括PC机构成的上位机和单片机构成的下位机。上位机提供了良好的人机交互界面;下位机采用集成电路,以及信号采样、V/F、F/V转换和D/A转换,通过串口通信将单片机与PC机连接。借助这一系统,可方便灵活精确地实现对各种电动天窗的耐久性测试。
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电动天窗 测试系统
测试系统介绍
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