- 光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。 而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代
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G652D 光纤 测试方法 损耗
- 1）序言 文章介绍如何设计电路，减低采用IRIS40xx系列集成开关器的反激式电源中的空载和待机状态损耗。要达到此目的，可以利用一个根据负载情况转换IRIS器件的工作模式的电路。准谐振模式(Quasi-resonant mo
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设计 损耗 电源 开关 集成
- 光纤传输损耗的产生原因是多方面的，在光纤通信网络的建设和维护中，最值得关注的是光纤使用中引起传输损耗的原因以及如何减少这些损耗。光纤使用中引起的传输损耗主要有接续损耗（光纤的固有损耗、熔接损耗和活动接
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损耗 应用 光纤
- 您是否有过为降压稳压器充电、进行满功率测试，随后在进行电感指端温度测试时留下了永久(烫伤)印记的经历呢?或许过高的磁芯损耗和交流绕组损耗就是罪魁祸首。在 100-kHz 开关频率下，一般不会出现任何问题，这是
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解决方案 损耗 电感 降低
- 我们建议使用如下输出电流函数来计算电源损耗：下一步是利用上述简单表达式，并将其放入效率方程式中：这样，输出电流的效率就得到了优化(具体论证工作留给学生去完成)。这种优化可产生一个有趣的结果。当输出电
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电源 效率 最大化 实现 损耗 减少 如何
- 您是否曾详细计算过设计中的预计组件损耗，结果却发现与实验室测量结果有较大出入呢?本电源设计小贴士介绍了一种简便方法，以帮助您消除计算结果与实际测量结果之间的差异。该方法基于泰勒级数展开式，其中规定(
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解决方案 问题 损耗 电路 电源
- 本文介绍了集成续流二极管(FWD)的1200V RC-IGBT，并将探讨面向软开关应用的1,200V逆导型IGBT所取得的重大技术进步。IGBT技术进步主要体现在两个方面：通过采用和改进沟槽栅来优化垂直方向载流子浓度，以及利用“场终
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IGBT 软开关 损耗
- 摘要：介绍一种新的软开关Boost变换器。传统的Boost变换器在开通和关断时将产生开关损耗，因此使整个系统的效率下降。新的Boost变换器利用软开关方法增加了辅助开关管和谐振电路。这样，相比硬开关情况下，变换器减小
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变换器 Boost 开关 损耗
- 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
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微带线 相速 波长 损耗
- 摘要：本文详细阐述了有源钳位正激变换器的工作原理，分析了各工作模态的功率损耗，得出了功率损耗与励磁电感间的关系。经理论推导证明存在着一个最优的励磁电感值，可以使得变换器功率损耗最小，输出效率最高。 叙词
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分析 损耗 功率 变换器 有源
- MOSFET的开关轨迹线是判断MOSFET开关过程“软硬”程度的重要评估指标，MOSFET的软硬程度对于开关电源的性...
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MOSFET 损耗 开关 动态 截至 饱和
- 本文仅用n+2个有源CCCⅡ器件、n个接地电容及两个电阻方便地构成低通、带通、高通、带阻及全通类型的n阶滤波 ...
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损耗 低通 无源 带通
- 摘要：本文介绍光纤接续损耗产生的原因，光纤接续损耗测试的原理以及几种测试方法的应用和计算，较为系统的阐述了光纤接续损耗测试的科学方法。 光纤接续损耗是光纤通信系统性能指标中的一项重要参数，损耗值的大小直接影响到光传输系统的整体传输质量，在光缆施工和维护测试中，运用科学的测试分析方法，对提高整个光缆接续施工质量和维护工作极其重要，尤其是进一步研究光通信中长波长的单模光纤的通信性能、传输衰耗、测量精度和检查维修等方面有一定现实意义。 一、 光纤接续损耗分析 1、 光
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测量 测试 光纤 接续 损耗
- Recom的R-78xx系列从根本上解决了由于输入电压不稳定，引起的输入电压和输出电压差值较大，所导致较大的内部损...
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稳定 损耗 SIP 稳压
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