- 1 电网电压检测、高压检测保护电路 电网电压检测、高压检测保护电路原理如图1 所示。该输入电压与电网电压成正比,单片机以此电压为依据,与内部设定值进行比较,判断工作电压是否在其允许值范围内。若超过允许值
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原理 分析 工作 电路 检测 电磁炉
- 一、电路介绍这里介绍的人体反应速度测试器主要由4只数字电路芯片和10只LED等组成,可以测出人体对信号的反应时间,并将反应时间分为8段,段数越高反应速度越快,经常进行反应测试训练,可以逐步提高人体的反应速度。
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- 采用墙上交流电压工作的大功率电源都要使用大的输入滤波电容。必须限制这些电容的浪涌电流,否则,电源就可能触发交流断路器,或者造成整流器、滤波扼流圈或PCB(印刷电路板)走线的损坏。本例中的电路是在电容的充电路
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电路 控制 电流 电源 交流
- 由于移动性和成本的优势,无线通信领域的新用户和新服务不断增多,市场对于无线通信技术的需求也持续升温。不断发展的射频技术会催生出更加尖端的测量仪器。在3G热火朝天、4G初露端倪的时代,射频测量仪器有哪些技术
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射频 测量技术
- RF、SSP及DSP处理电路伺服电路的组成:由RF放大、伺服处理KB9223(SU3),DSP处理KS9284(SU2),聚焦、循迹、主轴、进给、进出仓电机驱动KA9259(SU4)等组成。
整机原理框图见85页附图。1、RF数字信号处理
从光盘反射回
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电路 介绍 处理 DSP SSP RF
- 图中所示是用运算放大器通用I型组成的分频和倍频电路.能在10HZ~10KHZ频段内工作.图示线路是分频与倍频的基本构成方法,即是一种锁段内工作.图示线路是分频与倍频的基本构成方法,即是一种锁相环的方法.输入频率FM首先经
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分析 电路
- LED灯具损坏的原因 LED灯具失效一是来源于电源和驱动的失效,二是来源于LED器件本身的失效。通常LED电源和驱动的损坏来自于输入电源的过电冲击(EOS)以及负载端的断路故障。输入电源的过电冲击往往会造成驱动电路中
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保护 措施 分析 电路 原因 灯具 失效 LED
- 今天的高性能ASIC和微处理器芯片消耗的功率可超过150瓦。对于1 V1.5 V的供电电压,这些器件所需要的电流可轻易超过100 A。通过采用多相直流/直流转换器,为此类器件供电的任务可变得更容易处理。 目前,可扩展控制器
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- 0 引言 Boost电路应用到功率因数校正方面已经较为成熟,对于几百瓦小功率的功率因数校正,常规的电路是可以实现的。但是对于大功率诸如感应加热电源,还存在很多的实际问题。为了解决开关器件由于二极管反向恢复时
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设计 仿真 电源 感应 PFC 电路 开关
- 所有专为驱动白光LED而设计的集成电路都可以提供恒定电流,其中绝大多数是基于电感式升压变换器或电荷泵的解决方案,这两种解决方案各有其优缺点。电荷泵解决方案是利用泵电容将电能从输入端传送至输出端,整个过程不
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比较 电路 驱动 LED 白光
- 3 仿真分析及具体设计结果3.1 仿真分析在亚微米的ESD结构的设计中,一种常见的具体的ESD瞬态检测电压如图2 VDD-VSS间的电压钳位结构。其原理如下:主要利用结构中的RC延迟作用,一般T=RC被设计为100ns-1000ns之间,而
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VDD-VSSESD CMOS 亚微米 电路
- 1 引言ESD(Electric Static Discharge)保护结构的有效设计是CMOS集成电路可靠性设计的重要任务之一,其ESD结构与工艺技术、特征尺寸密切相关,随着IC工艺技术的进一步发展,特征尺寸越来越小,管子的栅氧层厚度越来越
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VDD-VSSESD CMOS 亚微米 电路
- 随着现在对更高效、更低成本电源解决方案需求的强调,电子发烧友网整合《如何深入分析电源电路》系列文章,就各种电源管理课题提出一些对您有帮助的小技巧。该专栏面向各级设计工程师。无论您是从事电源业务多年还是
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技巧 驾驭 噪声 电路 电源 深入 分析 如何
- 摘要:在航天器用电设备中,多数器件由DC—DC模块供电,部分由一次电源直接供电,DC—DC模块作为用电负载也由一次电源供电,在DC—DC模块及星载用电设备突然加电时,有可能产生较大的启动电流,浪涌电
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旁路 保护 电路 新颖 能力 继电器 触点 提高
- 主要特色/优势:* 高亮度,卓越的色彩还原* 比流明相同的LED光源更紧凑* 调光——无需最高亮度时可进一步降低功耗* 与常规街道照明方案相比,最多可使维护成本降低66%凭借对射频技术的深入了解,恩智浦造就
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NXP 射频 等离子 照明解决方案
射频(rf)电路介绍
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