- 基于JTAG的ARM芯片系统调试,1 引言 随着嵌入式处理器性能的逐步提高,运算速度越来越快、处理的数据量越来越大,传统的调试方法如ROM驻留监控程序以及串口调试工具已经不能满足要求。ARM处理器采用一种基于JTAG的ARM的内核调试通道,它具有典
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系统 调试 芯片 ARM JTAG 基于
- 基于DeltaOS的系统软件设计,双星定位系统是我国自主开发的定位导航系统,它的用户手持终端对实时性要求高,考虑到价格以及开发周期的因素,用户机系统软件的开发选用了具有国内自主知识产权的DeltaOS. 本系统的系统软件在DeltaCORE内核上构建
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设计 软件 系统 DeltaOS 基于
- FPGA实现复接与分接系统,引言 近年来可编程器件的应用日益广泛,使用较多的是现场可编程门阵列(FPGA)和复杂可编程逻辑器件(CPLD)。FPGA器件性能优越,使用方便,成本低廉,投资风险小,使用FPGA设计可以完全根据设计者需要开发ASIC芯片,
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系统 实现 FPGA
- ARM系统预引导固件的新机遇-UEFI,ARM处理器已经在智能手机市场占主导地位,并越来越成为整个嵌入式领域的主流。最近,ARM处理器也进军服务器领域,追求计算连续性。 然而,历史上,ARM系统没有一个预引导固件的标准。这使得每个设计都有自己独特的
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机遇 -UEFI 固件 引导 系统 ARM
- 基于DSP的变频调速系统电磁干扰问题,1 电磁干扰(EMI)分析 1.1 电磁干扰的概念及途径 电磁干扰产生于干扰源,他是一种来自外部和内部的并有损于有用信号的电磁现象。干扰经过敏感元件、传输线、电感器、电容器、空间场等形式的途径并以某种形式作用
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干扰 问题 电磁 系统 DSP 变频调速 基于
- 1 系统概述 嵌入式系统是控制、监视或者辅助装置、机器和设备运行装置;是软件和硬件的综合体,可涵盖机械等附属装置;有着友好的人机界面,支持LCD及GPS模块;主要完成提取GPS定位信号的数据、坐标转换、电子地图的
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定位 平台 融合 系统 嵌入式 GPS
- 近期全球手机晶片5大供应商之一的展讯通信,接连购并半导体公司MobilePeak与手机晶片商泰景,外电表示,虽然购并与整合在半导体产业已稀松平常,但大陆半导体业者既无雄厚资本,又无完善产业链与市场,对于启动购并以扩大实力上,与国际半导体大厂仍有不小差距。
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高通 半导体
- 噪声影响 对手机进行测试时,考虑噪声之前首先应了解手机的结构。手机里既有发射器(TX)又有接收器(RX),发射器发射功率在+30dBm到-55dBm之间,接受器信号接收范围则在-20dBm到-108dBm之间。CDMA手机的发射器和接收
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CDMA 干扰 测试 手机接收器
- LCD LCD 液晶显示器是 Liquid Crystal Display 的简称,LCD 的构造是在两片平行的玻璃当中放置液态的晶体,两片玻璃中间有许多垂直和水平的细小电线,透过通电与否来控制杆状水晶分子改变方向,将光线折射出来产生
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设计 方案 系统 TV DVP-M LCD 基于
- 东芝公司说,它与巴西东芝子公司SEMP东芝信息公司(STIL)合资建立一家半导体设计机构,STI半导体设计巴西公司。
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东芝 半导体
- 北京时间8月13日下午消息,全球第二大闪存制造商东芝将于本财年末,把多达6000种的半导体产品线削减一半,借此提升效率。
东芝目前的审查重点集中在汽车和电子产品中使用的芯片。除此之外,东芝还将减少为每类用户设计的芯片种类,并增加可编程芯片的种类,让用户自己添加必要的功能。
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东芝 半导体
- 作为进行功率半导体业务的东芝公司在近期发布会上表示,夺取市场份额首位宝座的决心。因认为面向社会基础设施和汽车等的功率半导体市场将大幅增长,因此东芝首席常务执行董事、半导体和存储器社长小林清志表示,“我们将向功率半导体投入大量资源,希望在几年之内登上业界首位的宝座,领先于其他公司”。目前,该公司的市场份额在业界位居第三。东芝准备将自主开发的元器件工艺技术及大口径化等作为竞争力的源泉,以提高市场份额。
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东芝 半导体
- 1 引言 目前,普通触摸屏主要有红外线式、电阻式、表面声波式、电容式等类型,然而这些类型的大屏幕尤其是超大屏幕触摸屏产品,均存在价格昂贵、通用性差、稳定性差、准确性差的问题。现在实现了一种基于摄像头的
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方案 实现 系统 触摸屏 虚拟
- 许多类型的适配器可用来为锂离子(Li-ion)电池充电,并为系统供电,而各制造商的电气规格通常是不同的。这对系统设计师构建便携式装置提出了要求,在采用不同适配器时均符合安全和可靠性需求。介绍了一种新型电池充
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设计 实现 安全性 系统 电池 充电 提高
- 功能演示版本已经完成。0~36V连续可调 步进0.1V 误差 -0.03V 0~12A恒流可调 步进0.1A 误差 -0.1A (演示版本 ...
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数字 开关电源 控制 系统
半导体测试系统介绍
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