PIC16F87X系列单片机的复位功能设计得比较完善，引起单片机内部复位的条件和原因可以大致归纳成以下5种．1．上电复位每次单片机加电时，上电复位电路都要对电源电压VDD的上升过程进行检测，当VDD值上升到规定值1.6～
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模块 系统 复位 单片机 PIC
因应全球景气混沌不明，京元电手握百亿银弹对抗低迷的景气;京元电董事长李金恭27日表示，明年整个半导体产业将面临三道关卡，首要是欧债风暴能远离。
曾经历网络泡沬、SARS危机及全球金融风暴的李金恭，以他过去对总体经济局势的变迁所练就的市场敏锐度，他表示，明年全球经济景气能否回温，恐怕要先过三个关卡，欧债问题、美国经济数据、以及新兴市场消费表现。
李金恭指出，目前美国包括新屋开工率、销售率、失率业及耐久财订单等各项经济数据有逐渐好转迹象，感恩节和圣诞节买气也不差，接下来要看华人农历春节的消费表
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京元电 半导体
数字电视是将传统的模拟电视信号经过抽样、量化和编码转换成二进制数代表的数字式信号，然后进行各种功能的处理、传输、记录、存储，监测和控制的一种全数字处理过程的端到端系统。正是这种全数字化的特点，使我们可
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原理 实现 系统 接收 条件 数字电视
PDMA在测试SDRAM控制器中的应用,我们设计了一个PDMA（Programmable Direct Mem o ry Access）用于测试SDRAM控制器的性能。在SoC中，SDRAM控制器往往跟多个IP模块（图形处理单元，音频处理单元等）交换数据，采用多个PDMA通道同时访问Memory可以真实
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应用 控制器 SDRAM 测试 PDMA
半导体的特性半导体的导电性能比导体差而比绝缘体强。实际上，半导体与导体、绝缘体的区别在不仅在于导电能 ...
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半导体
序 言LED 即发光二极管，是一种半导体固体发光器件。它是利用固体半导体芯片作为发光材料，在半导体中通过载流子发生复合放出过剩的能量而引起光子发射，直接发出红、黄、蓝、绿、青、橙、紫、白色的光。LED 一般被称
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设计 系统 电源 驱动 LED
为什么要发展测试友好技术过去，若某一产品在上一测试点不能测试，那么这个问题就被简单地推移到直一个测试点 ...
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测试 技术
【摘要】：介绍了由C8051F017构建的智能二线制温度变送器,分析了系统实现的理论依据。硬件采用低功耗线性变换器MAX1616和TLC27L2、TLE2021运算放大器,通过信号处理模块对采集的被测信号进行放大,再用数据处理模块进行信号的软件线性化处理,最后通过V/I变换模块把反映温度的线性变化信号调制成电压信号后,转换成相应的电流信号(0～16mA),加上系统的静态电流4mA,形成4～20mA的电流信号通过二线电流线输出。软件采用查表法和计算法结合的插值法。该装置精度可以保证在0.1%,可靠性较好,电
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近几年半导体、太阳能等产业面临血淋淋的整并淘汰赛，上游半导体设备商挑战日益严峻，多家设备商都感叹，客户在淘汰和集中化过程中，变成现在手上每一家客户都变的十分重要，一家都不能少，未来18寸晶圆时代来临后，目前全球只有台积电、三星电子(Samsung Electronics)、英特尔(Intel) 3家半导体厂有能力投资，设备商会面临更严峻挑战，但也象征另一场军事粮草采购大赛的开始。
半导体产业中亘古不变的赢家法则，就是在景气最低迷时持续投资，三星、台积电都是此法则的忠实信徒;不过，历史人人会读、道
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三星电子 半导体
关键字： 矢量网络分析仪 安立通信工程中常用来描述信号相位失真的参量--群时延（也称为包络时延）的定义为：网络的特征相移对频率变化曲线的斜率。当网络的相频特性为直线时，群时延Td为常数，通过网络各种频率的信
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群时延 测试
传统的交通灯有以下几个缺点：反光碗的存在导致了假显示效果的出现，假显示效果会引起严重的交通事故；寿命短、维护费用高；耗能高。针对传统交通灯的缺点，采用LED发光源设计的交通灯，具有可视性强、功耗低、节能、
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设计 系统 信号灯 交通 太阳能
摘要：无极荧光灯作为一种高效、节能的照明产品，在道路、隧道、桥梁、大型厂房场馆等工程中具有广泛应用。而以此产品为基础，配备数字化无线通信控制技术，可以更大限度的增加对实际工程中照明的控制，并进一步提高
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照明 应用 荧光灯 数字化 无线通信 系统 基于
摘要：根据道路照明系统的运行特点，在节能控制目标和保证可靠性的前提下，设计和分析合适的智能控制策略和控制网络拓扑结构选择。节能道路照明系统在智能照明控制策略的统一指导下运行，基于低功耗无线通信技术，实
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智能控制 设计 无线 系统 道路 照明 节能
电缆与连接器故障在LAN（局域网）中相对较常见。图1的电路可以测试直通或交叉式10BaseT、100BaseT或千兆位UTP（非屏蔽双绞线）和STP（屏蔽双绞线）电缆。电路会对每个链接线对作一次连续测试。当电缆两端RJ-45连接器
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测试 电缆 LAN 发光 LED
半导体测试系统介绍
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