智能的电容测试仪电路图

智能的电容测试仪电路

如图为智能的电容测试仪电路图。该电路主要由三部分组成:一个基准电路、一个测试对比电路和一个指示电路。电容测试仪电路中， TCI 组成测试基准电路，它是由NE555 与R1，R2及C1组成的单稳态电路，SB1是它的触发按钮开关，按下SB1后单稳态电路启动。单稳态电路的暂稳态时间由Tdl 1.l(R1+R2)C1决定，改变其中任何一个元件的数值，Td1 随之改变，电路的输出状态也会改变。IC2组成被测电容测试对比电路，它是由NE555与被测电容Cx组成的另一个单稳态电路。
若被测电容Cx和基准电容CI的容量完全相同，两个单稳态电路的Td相等，则当按下SBI后，ICI和IC2同时输出高电平，延时结束后两电路同时恢复低电平。这时，LEDI和LED2同时发光，但HTD的两端因同时出现等电位，因此不会发声。
若被测电容Cx大于CI，则被测电容的Td2大于基准电容的Td1。这时当按下SBI，两电路同时启动并经延时后，ICI首先由高电平恢复低电平，IC2则随后恢复低电平。在ICI首先恢复高电平后，由于IC2仍为高电平，就会出现ICI由高电平变为低电平的瞬间，IC2输出的高电平通过VD6→HTD→VD3构成回路，使HTD发出"铛"的一声，同时LEDI首先熄灭。
若被测电容ex的容量小于基准电容CI时，IC2的输出端比IC首先恢复低电平。输出电路会由VD4→HTD→VD5构成回路，在IC2恢复低电平的瞬间发出"铛"的一声，同时LED2首先熄灭。