微波暗箱反射率电平分析与测量 2

　　图（3）、图（4）分别表示了自由空间的入射、反射波构成的驻波和驻波曲线。显然该方法的实际物理意义是：在理想状态下，暗箱内只存在直射波，而投射到吸收材料上的电磁波能量绝大部分被吸收掉了，但当有一定的杂散波存在（如反射波、绕射波、散射波等），这些相干波束在极化相同的条件下，当两波间相位相差2nπ（n=1，2，3）时，就形成波峰，而相位差为2（n+1）π的地方，两波相抵消或部分相抵消形成波节，在圆柱形暗箱内出现许多波峰、波节而形成场结构相当复杂的空间驻波分布。因此，在静区范围内反射率电平要比其它空间内的反射率电平小很多。

5 确定小圆柱形微波暗箱反射率电平的主要方法

　　（1） 测量接收天线的方向图，在所需要的方位角φ上标出相应的方向图电平A1（dB）。

　　（2） 将天线最大辐射方向指向φ角，横向移动天线并记录此时的空间干涉波曲线，如图（5）所示：

　　（3） 描绘驻波曲线的包络，由包络线的极大极小值求出Δab，并求出它的平均电平A1（dB），若ED＞ER，A1（dB）就是接收天线的方向图电平。如图（6）：

　　（4） 在不同的角上，重复（2）、（3）步骤，就能求出一系列空间驻波曲线，再由驻波曲线的包络来求出Δab值，在ED＞ER的情况下，由式（8）就能求出不同方向上的反射率电平。如果ED＞ER，则需按下式计算反射率电平：

　　由于ED随天线的移动有规律的变化，ER无规律的变化，在某取向角，如果实测空间驻波曲线的平均值出现无规律变化时，就能判定ER＞ED，或者在这个取向角上，假定驻波曲线的平均电平比在这个取向角上方向图的电平高，也能判定ER＞ED。

6 建立小圆柱型微波暗箱的测试系统与测试步骤

　　（1）测试装置的建立

　　微波暗箱反射率电平的测试系统主要由发射信号源（69347B）、接收机（MS2667C频谱分析仪）、计算机及接收天线和测试支架组成，见框图（7）。其中信号源为发射天线输出一个微波直射信号，由频谱分析仪接收来自各方向的反射及直射信号，并由计算机读出后描绘出一个空间驻波曲线，并计算出反射率电平。天线支架用来控制测试天线的上下、左右直线移动及转角姿态的变化动作。为了能比较准确地描绘出空间行程驻波曲线，天线移动的行程距离必须大于等于两个波长。最后通过改变接收天线取向角以获得若干条驻波曲线，从而达到测试小圆柱型微波暗箱反射率电平的目的。

　　（2）测试过程

　　依据"VSWR"法的特点，我们将接收天线安装在测试支架上，使天线处于暗箱中心轴线上，并距离后壁尖劈为15cm处，分别改变天线与中心轴的夹角来进行反射率电平的测试。

　　（3）天线测试状态的确定

　　这里我们仅选择垂直极化状态进行测试，其次考虑到被测箱体的限制，在测试位置上仅选取一点，即接收天线距离后壁尖劈为15cm处，俯仰角为