RF和微波开关测试系统中的关键问题 作者： 时间：2009-07-05 来源：网络 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a635e61e&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a576c0a2&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 本文引用地址：https://www.eepw.com.cn/article/261243.htm 相位失真——随着测试系统尺寸的扩大，从相同的信号源出来的信号可能会通过不同的途径传送至DUT，导致了相位失真。这个指标通常被称之为传输延迟。对一个给定的传导介质，延迟是与信号路径长度成正比的。不同的信号路径长度将会导致信号相位移动，导致错误的测量结果。要减少相位失真，要保证信号路经长度的相同。 总结 讨论并理解RF/微波开关系统购建中的各种设计参数有利于保证信号和系统的完整性。(作者为美国吉时利公司资深应用工程师DaleCigoy) 上一页 1 2 3 下一页
加入技术交流群
评论