使用时间可控发射方法来进行模拟电路的失效分析 作者： 时间：2013-11-30 来源：网络 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a635e61e&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a href='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/ck.php?n=a576c0a2&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 体管与D2S接口的部分不匹配将导致事件发生器增益的减少。 晶体管参数0.5%的不匹配就会对预期的波形产生影响。这对模拟电路非常重要，这也表明TRE能用于诊断模拟电路内部敏感的不匹配问题。这样的晶体管不匹配将导致器件的失效并最终需要重新设计芯片。通过相应的掩模板修改和重新流片我们能生产出功能正常的芯片。 模拟电路文章专题:模拟电路基础 上一页 1 2 下一页
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