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以CPL天线为W-Fi装置实现无线耦合测试

作者: 时间:2016-12-06 来源:网络 收藏

刷电路板材可以有很高的辐射效率。

本文引用地址:https://www.eepw.com.cn/article/201612/326810.htm

  因此,当产品中采用了DockOn的CPL天线设计,就可以在生产过程中采用OTA/耦合测试技术,以优化的测试设置协助制造商提升产量。


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关键词: CPL天线W-Fi装

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