LED加速寿命和可靠性试验

在我国863计划课题的支持下，杭州远方光电通过自主创新，开发了即加速老化和光色测试于一体的测试系统，如图1所示为系统照片。系统具备90个功位，可分三温区同时老化测试90个被测LED(30个×3)，其结构主要特点是在恒温箱中设置光信号取样装置，并与光色测量设备相连，被测LED的光色参数可在箱内直接而不需要取出测量，可全自动实现老化测试以及数据分析。使得原本漫长而繁复的LED老化、寿命试验和温度试验变得十分的简单与轻松，数据更为精确可靠。设备含有多项远方公司独有的专利技术，整个设备设计整体性好，美观大方，无论是使用者还是评估者，无论是内在还是外观，都会让人信服。

利用上述测量装置，还可在不同的环境温度下(高温状态)，测量被测LED的光色度，获得LED光度-环境温度曲线(温度特性试验)。图2为典型的LED 相对光通量随环境温度的变化曲线，满足IES LM-82-11[2]以及关于CFL[3]的国内外标准的要求。

5. 小结

影响LED产品寿命和可靠性的因素有很多，相关的测试也较为复杂，其中最重要的是光通维持率测试，虽然已出台的国际标准要求不尽相同，但基本的试验方法和装置要求基本相同。在国家863课题的支持下，我国已自主开发了具有高智能化的加速老化和寿命测试系统，使我国工业界能够进行操作简便、高精度、低成本的光通维持寿命检测，同时该系统还可测试光色参数随环境温度变化的曲线，满足最新国际标准要求即发展趋势。此外，我国在LED的热电光综合分析系统和电磁兼容测试等方面也取得了诸多突破，建立了LED可靠性预测机制及BP(Back Propagation)神经网络模型[4]，为更全面地考察LED的寿命和可靠性提供了技术支持和装备保障。