一种针对多级串联模拟电路的可测性设计技术
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3 与边界扫描技术的兼容性
边界扫描测试技术在降低产品测试成本，提高产品质量和可靠性以及缩短产品上市时间等方面有显著的优点，目前在数字电路的测试中已得到很多应用。它也可应用于混合信号测试，图4就是一种混合信号芯片测试方案。本文设计的DFT结构中指令寄存器串接在IEEE 1149．1标准中的扫描寄存器后，共用时钟信号，可以进行联合测试，并且进一步减少了模拟部分额外引出的端口数。
4 结语
本文针对串联结构的模拟集成电路提出一种可测性设计结构，提高了电路的可控制性及可观察性，实现对电路整体以及内部单一或几个相邻模块的测试。仿真分析证明，该结构简单有效，只需额外引出5个PAD，数目少，灵活性高，不随模块数增加而变化，并可兼容边界扫描技术。不过，在提高可测试性的同时，会在一定程度上增加芯片的面积和功耗。
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