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解读FinFET存储器的设计挑战以及测试和修复方法

  • 同任何IP模块一样,存储器必须接受测试。但与很多别的IP模块不同,存储器测试不是简单的通过/失败检测。存储器通常都设计了能够用来应对制程缺陷的冗
  • 关键字: STAR存储器  FinFET存储器  SOC  

FinFET存储器的设计挑战以及测试和修复方法

  • FinFET存储器的设计挑战以及测试和修复方法-现在,随着FinFET存储器的出现,需要克服更多的挑战。这份白皮书涵盖:FinFET存储器带来的新的设计复杂性、缺陷覆盖和良率挑战;怎样综合测试算法以检测和诊断FinFET存储器具体缺陷;如何通过内建自测试(BIST)基础架构与高效测试和维修能力的结合来帮助保证FinFET存储器的高良率。
  • 关键字: FinFET存储器  SoC  STAR存储器  
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finfet存储器介绍

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