新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 业界动态 > 泛华测控受邀参加12th国际电子测量与仪器学术会议

泛华测控受邀参加12th国际电子测量与仪器学术会议

作者:时间:2015-07-27来源:电子产品世界收藏

  日前,由中国电子学会、IEEE Beijing Section主办的第12届国际电子测量与仪器学术会议(12thICEMI)在青岛落下帷幕,北京中科技术有限公司(简称:)作为受邀企业全程参与了会议。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/277844.htm

  本着“产学研”合作的目的,现场向参会嘉宾展示了适用于教学演示用的“多功能数据采集仪”,该产品在教学中可通过直观的数据和动态图像的变化,轻松实现电压采集、电压输出、电流输出、温度采集、超声波测距等测试项目的演示,吸引了众多高校师生的目光。

  

 

  泛华测控多功能数据采集仪

  会议期间,泛华另一款产品“便携式”引起了英国剑桥光电子与传感器组教授、主任初大平的兴趣,他来到展位前,认真观看了产品的外形、软件界面,并询问了产品的使用环境、功能以及适用领域。“这款产品最大特点的是便携,适用于实验室及外场,尤其解决了普通机箱在实验室中移动不便的问题,并拥有专业的分析算法,提供基本分析和高级分析的功能,非常适合实验室、研究所等科研环境的需要。”泛华现场工程师向其介绍道。

  

 

  剑桥教授初大平莅临泛华展台参观

  ICEMI会议是当前电子测量与仪器领域顶级的学术盛会,两年一届,来自全球的数百位专家、教授、学者、工程技术人员齐聚于此,为行业的发展、科研的未来及尖端技术的前景群策群力。泛华测控作为一家为致力于为各行业用户提供高品质测试测量解决方案和成套检测设备的企业,有责任贡献出一份力量。

  

 

  嘉宾与工程师现场热烈交流



关键词: 泛华测控 测振仪

评论


相关推荐

技术专区

关闭