新闻中心

EEPW首页 > 模拟技术 > 设计应用 > 延迟和建立时间与温度的关系

延迟和建立时间与温度的关系

作者:时间:2012-02-20来源:网络收藏

设计工程师们通常使用测试设备来验证数字逻辑电路的逻辑正确性。他们可能会设计一个测试方案来测试新的数字设备内部的每个单独逻辑功能。如果看到测试结果的每个步骤都是正确的,则可以很自然地得出结论:“机器工作正常”。

遗憾的是,实际的系统比这要复杂得多。许多计算机系统可以通过循序渐进的测试,但在实际工作速率,或者达到实际工作的数据吞吐量时,机器却不能工作。只有当读者拥有很多复杂系统的工作经验时,才会有这样的体会,事实也确实如此。

在高利用率时,一个调整数字系统内部的总线和其他部件会产生很多噪声。系统的数据量越大,其产生的噪声也越多。最好的测试计划会逐级递进到较大的数据流量,用大量的数据模型进行测试,重点测试流水线逻辑电路,存储器访问以及其他一些主要逻辑电路。好的数据模型找出正常工作时令系统出故障的噪声耦合。



关键词: 延迟 时间 温度

评论


相关推荐

技术专区

关闭