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用于时间交织ADC的高精度开环跟踪保持电路设计

作者:时间:2010-04-13来源:网络收藏

0 引言

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/180931.htm

随着数字通信系统的发展,高速数字处理系统对模拟信号和数字信号之间的转换要求越来越高。目前高性能模数转换器()的两大主要发展方向是高速、中低精度和低速、。前端TH电路通常是ADC设计的一个关键,其动态精度的好坏直接影响着ADC性能的优劣。

  1 开环TH电路

  在超高速ADC的设计中,一般多采用全并行Flash结构或者是结构。

  而在结构中,其前端TH电路则可以根据设计要求分别采用开环或者闭环结构。闭环结构速度较低,精度较高,而开环结构速度高,但本身精度较低。本设计中采用后者。

  TH电路的失真主要来源于非线性MOS开关电阻、开关寄生电容和开关电荷注入。MOS开关导通电阻的非线性在信号时产生的失真,也限制了电路和建立。因此,在超高速TH电路中,输入采样开关必须具有较低且近乎恒定的导通电阻。

  图1所示是开环TH电路的结构,该电路主要包括采样开关、采样电容和输出缓冲器三个部分。为了解决开环电路本身线性度差的问题,本文采用了自举开关技术和加强型缓冲器技术。自举采样开关可提高开关导通电阻的线性度,且差分结构可以降低电荷注入,改善电路性能;而后端的加强型缓冲器技术则提高了带宽和增益,降低了管子尺寸和功耗,最终达到提高开环TH电路精度的目的。

  2 自举采样开关

  由于采样开关在导通时可等效为一个非线性电阻,它会引入噪声和非线性失真,因此,采样开关的线性度直接影响着TH电路的精度。现在应用中的高线性度开关主要有互补MOS开关和自举采样开关。


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