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CPLD和MSP430单片机在导波雷达物位计中的应用

作者:时间:2012-12-23来源:网络收藏

摘要:是一种利用时域反射原理实现的高性能。为了实现这一高精度时差测量系统,采用了单片机协同工作的电路设计。为信号收发模块的核心,为发射电路中提供窄脉冲产生电路的周期触发信号,并在接收电路中控制可编程延时器件AD9500实现,把高频的回波脉冲信号在时间轴上放大为低频信号。以为核心的信号处理模块根据收发模块传来的信号计算物位,并把物位信息以4-20 mA信号、串口等方式输出,同时还对液晶屏、按键等外围器件进行控制。实际试验表明系统各模块的工作状态与理论分析相符。
关键词:;物位计;;MSP430;

导波雷达物位计具有受温度、压力、雾气、泡沫及被测介质物理特性变化的影响较小的优点。而且其测量精确,性能稳定。在石化、电力、冶金、等领域得到了广泛的应用,是近年来发展最快的一种物位测量技术。目前已有的导波雷达物位计多是国外进口产品且价格较高,低成本的导波雷达物位计有很大的市场前景。

1 雷达导波物位计的测量原理
导波雷达是非接触式雷达和导波天线结合的产物。它运用了TDR(时域反射)的原理。
图1是导波雷达物位计的测量原理,电磁波发射模块发射窄脉冲信号进入同轴电缆,信号传播到同轴电缆和导波杆的连接处(法兰处)会首先发生断路,一部分信号会反射产生一个顶部回波,其余信号继续沿导波杆传播。当信号与被测液体表面接触时,其阻抗特性会发生变化,一部分信号也会被反射,产生物位回波,此后信号在导波杆的底部断路处还会产生一个能量较小的底部回波。根据传输线理论,顶部回波和底部回波是断路产生的,所以与发射信号同相。一般下层介质的介电常数大于上层介质特性阻抗小于上层,因此物位回波与发射信号反相。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/170644.htm

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导波雷达物位计通过测量物位回波和顶部回波之间的时间差计算物位高度,物位计的法兰处到被测介质表面的距离L与脉冲在杆上的传播时间△t成正比。设c为光速。罐体高度为H,则物位高度h和△t有如下关系:
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实际上量程的上部和下部都会存在一个非线性特性的测量死区,其长度分别为L0和L1。实际物位h的可靠测量的范围为L0到H-L1。物位为L0时对应的物位计模拟信号输出为4mA,物位为H-L1时输出为20mA。

2 雷达导波物位计系统整体方案设计
导波雷达物位计由机械部分,信号收发模块,信号处理模块3个模块构成。信号收发模块和信号处理模块两部分的电路设计采用了CPLD和MSP430单片机协同工作的电路设计方案,其中CPLD为信号收发模块的控制核心,MSP430单片为信号处理模块的控制核心。导波雷达物位计的系统框图如图2所示。

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3 CPLD为核心的信号收发模块的设计
雷达信号收发模块由可编程逻辑器件CPLD为核心,下面介绍收发模块的工作过程。
CPLD在收到单片机发出测量启动信号后,开始产生2 M的触发方波,触发方波被微分电路微分整形后进入窄脉冲产生电路触发雪崩三极管,产生脉宽约为1~2 ns左右的窄脉冲。脉冲波在法兰处的同轴电缆与导波体的连接处产生顶部回波,在物料界面处产生物位回波。
与此同时,CPLD控制延时芯片AD9500产生2 M触发方波的步进延时方波,方波被微分整形后,产生控制的取样脉冲。取样脉冲整形为正负取样脉冲后,控制高速四管平衡取样门的导通与截止,实现等时间采样。回波信号经过收发开关进入超低噪声精密高速运放LT1 128放大后送入取样门,经等效时间采样和保持后,送入信号处理部分。


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