基于I2C串行通信的EEPROM在电视产品中设计与应用

3.2 E2PROM部分区域物理损坏

常温下，短期内不会产生E2PROM部分区域物理损坏的现象。由于E2PROM在常温下的可擦写100万次。但在高温下，E2PROM的可擦写数大大降低。如果高温下频繁对E2PROM进行擦写操作，短期内易导致E2PROM部分区域物理损坏。其表现为特定数据无法正常存储，即使使用烧录器强制烧录也不能恢复。判定E2PROM部分区域物理损坏的方法：用烧录器将E2PROM中每个地址分别置0和1状态，可检查有无区域物理损坏。确认是E2PROM损坏，则必须更换新的E2PROM才能排除电视机的故障。若软件处理不当则引起这种现象。要防止这种情况发生必须从软件着手，从而避免对特定区域频繁操作。典型实例是某高清CRT彩电AFT频率自动跟踪系统及其他一些判别系统的软件设计。以AFT频率自动跟踪系统为例，当环境工作温度及电源电压变化后，高频调谐器会有一定的频率点漂移。软件设计时，频率点偏移后，软件程序应即时记录下新的频率点偏移电压值并将其数值存储到E2PROM指定地址中。高温下，由于相关器件的参数发生变化，频点会随温度升高不断漂移，使E2PROM数据刷新异常频繁，从而导致电视机在高温负荷试验中出现E2PROM物理损坏。在查明原因后，应对该软件进行修改，将实时存储频点数据方式改为频率跟踪掉电存储方式，即只在电视机关机掉电的情况下记录该数据，这样可减少E2PROM数据刷新次数，从而解决上述问题。

4 结语

E2PROM作为一种通用存储器件，在设计时往往容易忽视一些对其细节方面的考虑，其中一些问题在设计试制阶段被发现并解决，还有一些问题是要在量产乃至售后一段时间后才暴露出来。因此，完整的现代电子产品系统，更多的是需要依靠软硬件相互配合开发，才能使产品的可靠性到达最佳状态。